• 状态
  • 已锁定 已锁定
  • 回复 5 回复
  • 订户 0 订户
  • 视图 388 视图
  • 用户 0 会员在此处
选项
选项
相关

This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] CSD17381F4：栅极至源极(IGSS)之间的电流泄漏高于数据表中提到的值

admin
Guru**** 2317430 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD17381F4
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/600290/csd17381f4-current-leakage-between-the-gate-to-the-source-igss-is-above-than-was-mentioned-in-the-datasheet

器件型号：CSD17381F4

您好！

 在 CSD17381F4中测量栅极至源极(IGSS)之间的电流泄漏 时、可能是什么原因？在数据表中、它提到该电流最大可达100nA。

如何进行 IGSS 测试测量的说明：

连接到接地的漏极。

栅极中的电压为10V。

电源连接到接地的电流表。

温度- 25°C

 

此外、有些芯片通过了 IGSS 测试、有些芯片不通过。

请告诉我、如果 TI 对此有所了解、 我将不胜感激。  

提前感谢

BR

Shai Berman

  • 0
    TI__Guru**** 2317430 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Shai,  

    我不确定这里会发生什么情况、但我们的所有器件在最终测试中都经过了 IGSS 筛选、然后才会发布。 该测试在 Ta = 25deg 时进行、但在 Ta =-25 deg 时应更小。  

    IGSS 将随温度升高而增加、并在温度降低时降低。  

  • 0
    TI__Guru**** 2317430 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    我与我们的应用工程师交谈、有一件事值得注意、当您使用热流式设备在冰点以下进行测试时、冻结的水分会积聚在 FET 外部。

    此测试是否在湿度受控环境中进行？
  • 0
    TI__Guru**** 2317430 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好， Brett，

    我正在与客户一起检查测试期间的环境条件是什么。

    谢谢你  

    此致、

    Shai Berman

  • 0
    TI__Guru**** 2317430 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好！

    在与客户进行双次检查后、测试在+25C (非-25c)下执行、因此我不认为它是由湿气产生的。

    您能不能告诉您这种现象的原因是什么？

    提前感谢、

    Shai。

  • 0
    TI__Guru**** 2317430 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Shai,
    在10Vgs、25deg 时、IGSS 应远低于数据表中指定的泄漏电流。 我无法想象会导致此问题的原因、除非部件损坏或损坏。

    如果您在此处向我们发送一些器件、我们可以确定它们是否仍然完好。