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[参考译文] LM3409:测试过程中出现故障

Guru**** 2328790 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/597344/lm3409-failure-during-test

器件型号:LM3409

我在我的电路上运行了一个热循环测试。 300kHz 开关电压和1.5A 驱动电流、具有12VDC 输入和3.1VDC 输出。

热循环测试  

热周期耐久性测试:

  1. 输入电压:12V 直流
  2. 低:-10°C
  3. 高:85°C@85%RH
  4. 斜坡时间:1分钟、如果测试室无法根据温度要求实现1分钟的上升/下降时间、则由测试仪自行决定。
  5. 停留时间:10分钟

72小时后,芯片出现故障... 内部工作原理有点神秘、但我觉得二极管检查应该提供一些有用的信息。 使用 Fluke 85V I 测量了引脚6上的黑色引线和引脚7上的红色引线二极管。 在工作芯片上、当我在引脚8上放置红色引线、在引脚9上放置红色引线时、我得到的电压为1.1V、并且二极管发出良好的蜂鸣音。  

在坏芯片上、我在所有这些点上读取0.5V。 然后、当我检查引脚7的红色导线时、读数为短路。 然后、我读出1.1V、芯片再次工作、并将其放回烤箱中。

您是否知道是什么导致了芯片内部发生这种情况? 内部是否有某种可重置保险丝? 或者、这是发生了一些奇怪的异常吗?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    只是更多的信息,当它在房间里失败后,我把它放在我的桌子上,在它自己解决它之前一个小时内什么也不做
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Dominic、

    这很奇怪。 我们以前没有在 IC 上看到过任何东西、也没有任何类型的内部保险丝。 有一个热关断功能可以解释这种差异。 您知道在此期间 IC 达到了什么温度吗? 如果是这样、则在环境温度升高时、断电时间最多可达一两分钟、从而充分冷却。

    但从您的描述和我看到的其他问题来看、如果它随着时间的推移"自行修复"、听起来也可能是机械性的。 最常见的是从 DAP 到 PCB 接地层的焊点不足。 随着电路板的扩展和合同的签订、您可能会遇到接触问题、IC 可能会表现异常。 也可以是板上另一个连接上的冷焊点。 热循环非常适合捕获冷焊点。 因此、考虑到对该器件进行了全面测试、我倾向于这种解释。

    但是、如果您验证了制造和焊点、但仍然存在多个电路板的问题、那么我们可以进一步研究。  

    此致、

    克林特