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尊敬的
当我使用 IC UCC25630-3时、它恰好在无保护情况下关闭。
IC 的栅极驱动器停止工作并闭锁。
为什么会发生这种情况?
可以回答我的问题吗?
Thx
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我们的分析和测试显示、如果没有多个过零、则由于多个过零而不会出现 LO 闩锁;但如果存在多个过零、则可能会出现 LO 闩锁。 这意味着、多个过零可能会导致 LO 闩锁、但这并不意味着多个过零必须导致 LO 在存在多个过零的情况下直接闩锁。 多个过零会导致 IC 内部竞争条件、因此当外部多个过零碰巧在竞争条件下胜出时、可能会发生 LO 闩锁。
因此、根据我们知道的情况、消除多个过零是消除多个过零导致 LO 闩锁的方法。
根据您的备注、多个过零可能会导致 LO 闩锁
但它不需要闩锁。
如果 IC 的竞争条件导致锁存、则 UCC25630中存在一些错误。
在任何情况下、除了发生保护之外、它都不应被锁存。
因此、设计人员的易用程度有限。
我可以肯定我的问题、它不是多个过零。
在同一条件下、我更改 LL/SS 的电压。
如果电压过低,LLC 将不稳定并在短时间内锁存。
您无法 保证问题一定是噪音。
感谢您的帮助、 如果您只想关闭 此主题、我的问题就无法解决。
以下是您最初提出的问题、TI 已回答了这些问题。
当我使用 IC UCC25630-3时、它恰好在无保护情况下关闭。
IC 的栅极驱动器停止工作并闭锁。
为什么会发生这种情况?
可以回答我的问题吗?
- TI 答案:问题是由于设计中存在 ISNS 多次过零、因此消除 ISNS 多次过零以解决 LO 闩锁问题。 所有其他可能的根本原因都是向您提出的、但您的回复不包括在内。
您的问题:为什么会发生这种情况?
TI 回答:这是因为进行这些更改时不存在竞争条件。
TI 说明:
ISNS 多个过零可能会也可能不会产生竞争条件、具体取决于运行条件。 为了消除 LO 锁存、需要消除 ISNS 多次过零。
如果没有 ISNS 多次过零、而您仍然看到 LO 闩锁问题、则 LO 闩锁是由不同的根本原因引起的。
但现在、根据您的描述、您的设计始终具有多个 ISNS 过零。
逻辑是:
如果没有 ISNS 多次过零、则没有 LO 锁存器。
如果有 ISNS 多次过零、LO 锁存取决于运行条件:
-当存在竞态条件时、LO 闩锁存在、
-在无竞态条件时,LO 闩锁不存在。
如果您看到在没有 iSNS 多次过零时发生 LO 锁定、则这是一个新问题。 如果您在 iSNS 具有多个过零时没有 LO 锁定、如所示、则该特定操作中不存在竞争条件。
为了消除 LO 闩锁问题、需要在外部消除 iSNS 多次过零、或者您可以等到内部固定 IC 可用时再进行。
您的问题:为什么会发生这种情况?
TI 回答:这是因为进行这些更改时不存在竞争条件。
TI 说明:
ISNS 多个过零可能会也可能不会产生竞争条件、具体取决于运行条件。 为了消除 LO 锁存、需要消除 ISNS 多次过零。
如果没有 iSNS 多个过零、但您仍然看到 LO 锁定问题、则这是一个新问题。 但现在、您的设计始终具有多个 ISNS 过零。
逻辑是:
如果没有 ISNS 多次过零、则没有 LO 锁存器。
如果有 ISNS 多次过零、LO 锁存取决于运行条件:
-当比赛条件存在时、LO 闩锁存在、
-当比赛条件不存在时,LO 闩锁不存在。
如果在 iSNS 具有多个过零时没有 LO 锁定、则意味着这些特定操作中不存在竞争条件。
总结:
要消除 LO 闩锁问题、需要在外部消除 iSNS 多次过零、或者可以等待使用内部固定 IC (如果可用)。
如果您在没有 iSNS 多次过零的情况下看到 LO 锁存、则会有所不同。 请告诉我们。