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[参考译文] UCC256303:UCC25630-3栅极驱动器闭锁

Guru**** 2538955 points
Other Parts Discussed in Thread: UCC256303, UCC39002

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/752294/ucc256303-ucc25630-3-gate-driver-latch-off

器件型号:UCC256303
主题中讨论的其他器件: UCC39002

尊敬的

当我使用 IC UCC25630-3时、它恰好在无保护情况下关闭。

IC 的栅极驱动器停止工作并闭锁。

为什么会发生这种情况?

可以回答我的问题吗?

Thx

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    我们的观察结果是、红色圆圈区域显示 ISNS 具有多次过零、您的 LO 闩锁设计中的问题可能是这些 ISNS 多次过零导致的。

    这些噪声需要进行衰减、以消除多次过零、从而使 IC 正常运行。

    我们仍在审查您的设计布局、并将在审查后回复您。

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    在解锁情况下捕获了波形。

    您可以观察存在 多个过零的波形。

    您能解释一下它为什么不关闭吗?

    CH1 ISNS

    通道2低电平

    CH3 Cr 电压

    通道4高电平

    CH1 ISNS

    通道2低电平

    CH3谐振电流

    通道4高电平

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    我们的分析和测试显示、如果没有多个过零、则由于多个过零而不会出现 LO 闩锁;但如果存在多个过零、则可能会出现 LO 闩锁。 这意味着、多个过零可能会导致 LO 闩锁、但这并不意味着多个过零必须导致 LO 在存在多个过零的情况下直接闩锁。 多个过零会导致 IC 内部竞争条件、因此当外部多个过零碰巧在竞争条件下胜出时、可能会发生 LO 闩锁。

    因此、根据我们知道的情况、消除多个过零是消除多个过零导致 LO 闩锁的方法。   

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    我查看了您的原理图和布局。 为了了解与 ISNS 耦合的噪声、我还需要您提供功率级的原理图和布局。 然后、我将需要您的帮助来检查多个环路和接地平面。

    请打开一个新主题并请求我的支持、因此我将继续该主题。

    我需要根据我们所知的问题关闭此线程根本原因应该是 iSNS 多个过零、并且需要调整布局、因为您已经在 iSNS 上尝试了更多电容、但问题未得到解决。 但您最初的问题已得到解答。
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    根据您的备注、多个过零可能会导致 LO 闩锁
    但它不需要闩锁。
    如果 IC 的竞争条件导致锁存、则 UCC25630中存在一些错误。
    在任何情况下、除了发生保护之外、它都不应被锁存。
    因此、设计人员的易用程度有限。

    我可以肯定我的问题、它不是多个过零。
    在同一条件下、我更改 LL/SS 的电压。
    如果电压过低,LLC 将不稳定并在短时间内锁存。

    您无法 保证问题一定是噪音。

    感谢您的帮助、 如果您只想关闭 此主题、我的问题就无法解决。

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    是的、竞态条件会导致 LO 闩锁、需要在 IC 内修复此竞态条件。

    如果您知道根本原因是什么、那么只需修复它。 因为我们只知道我们的分析和基准测试中可以包含哪些内容。

    在任何情况下、此线程都不需要再存在、因为我们已经根据我们的了解回答了您的问题、并建议您消除 iSNS 多个过零、以解决 LO 闩锁问题。 如果您想继续、请遵循我们的建议并共同努力。 但是、如果您确定自己的发现和想法可以解决您的问题、您可以尝试解决。

    如果您在设计中看到其他问题、或者您认为您将按照我们的建议解决此 LO 闩锁问题、请打开新主题。
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    简单的点击抑制功能对任何事情都没有帮助。 同样,我们的建议是消除 ISNS 上的多个过零。 这是我们对您最初问题的回答。 TI 认为已经解决。 如果您认为问题未解决、请遵循我们向您提出的建议。 如果您不同意遵循我们的建议、我们将无法为您提供帮助。 您可以尝试自己的解决方案。
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    我们曾要求 TI FAE 提供帮助、他们告诉我们可以在这里找到答案。
    那么、我尝试执行它。
    但现在无法实现。

    这个问题无法解决、为什么我需要打开一个新线程。
    因为它是相同的。
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    我们建议消除 iSNS 上的多个过零。 但您认为这不是根本原因。 因此、您可以首先尝试您认为的方法来解决该问题。 如果您不能、请遵循我们的建议。

    如果您想遵循我们的建议、打开新主题帖会很有帮助。 新主题将侧重于布局审查、以解决 ISNS 噪声问题。

    如果您的想法不同、新主题也会开始讨论您的想法。

    E2E 是回答最初的问题。 任何扩展问题都应出现在新主题帖上。

    因此、请打开一个新主题、或者按照我们的建议、或者您想讨论您的想法、以如何解决问题
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    我们建议消除 iSNS 上的多个过零。 如果 iSNS 上没有多个过零、请告知我们问题是否仍然存在。
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    以下是您的原始问题、TI 回答了这些问题。

    当我使用 IC UCC25630-3时、它恰好在无保护情况下关闭。

    IC 的栅极驱动器停止工作并闭锁。

    为什么会发生这种情况?

    可以回答我的问题吗?

    - TI 答案:问题是由于设计中存在 ISNS 多次过零、因此消除 ISNS 多次过零以解决 LO 闩锁问题。

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    您曾说过、多次过零不仅是可能导致其闩锁的根本原因。
    您还记得吗?
    所以我的问题没有答案。
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    但您回答输入电压正常、我询问的所有其他问题都可以通过您的回答得到。 剩下的唯一问题是多个过零-这就是"原因"。 所以回答了您最初的问题。
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    以下是您最初提出的问题、TI 已回答了这些问题。

    当我使用 IC UCC25630-3时、它恰好在无保护情况下关闭。

    IC 的栅极驱动器停止工作并闭锁。

    为什么会发生这种情况?

    可以回答我的问题吗?

    - TI 答案:问题是由于设计中存在 ISNS 多次过零、因此消除 ISNS 多次过零以解决 LO 闩锁问题。  所有其他可能的根本原因都是向您提出的、但您的回复不包括在内。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您已为此问题打开了一个新主题。 该线程需要关闭。 "TI 认为已解决"是要关闭此主题、因为您的新主题上将提供有关此问题的所有进一步支持。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    答案是相同的。
    我想用它来解决和结束新问题。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    由于您已经尝试增加 ISNS 上的电容、但问题仍未解决、下一步是查看您的 PCB 布局、包括功率级。 请提供包含 UCC256303和功率级的原理图和布局。 在回顾之后、我们将需要您的帮助来检查多个环路和接地平面。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我说过、这不是由 ISNS 多次过零导致的。
    由于我尝试在同一条件下更改 LL/SS 的电压,因此发生了闩锁。
    当 LL/SS 的电压过低时,LLC 变得不稳定并在短时间内锁存。
    如果电压较高、则不会锁存并正常工作。
    LL/SS 引脚只控制跳过模式的点。
    为什么会发生这种情况?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您的问题:为什么会发生这种情况?
    TI 回答:这是因为进行这些更改时不存在竞争条件。

    TI 说明:

    ISNS 多个过零可能会也可能不会产生竞争条件、具体取决于运行条件。 为了消除 LO 锁存、需要消除 ISNS 多次过零。

    如果没有 ISNS 多次过零、而您仍然看到 LO 闩锁问题、则 LO 闩锁是由不同的根本原因引起的。

    但现在、根据您的描述、您的设计始终具有多个 ISNS 过零。

    逻辑是:

    如果没有 ISNS 多次过零、则没有 LO 锁存器。
    如果有 ISNS 多次过零、LO 锁存取决于运行条件:
    -当存在竞态条件时、LO 闩锁存在、
    -在无竞态条件时,LO 闩锁不存在。

    如果您看到在没有 iSNS 多次过零时发生 LO 锁定、则这是一个新问题。 如果您在 iSNS 具有多个过零时没有 LO 锁定、如所示、则该特定操作中不存在竞争条件。

    为了消除 LO 闩锁问题、需要在外部消除 iSNS 多次过零、或者您可以等到内部固定 IC 可用时再进行。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您的问题:为什么会发生这种情况?

    TI 回答:这是因为进行这些更改时不存在竞争条件。

    TI 说明

    ISNS 多个过零可能会也可能不会产生竞争条件、具体取决于运行条件。 为了消除 LO 锁存、需要消除 ISNS 多次过零。

    如果没有 iSNS 多个过零、但您仍然看到 LO 锁定问题、则这是一个新问题。 但现在、您的设计始终具有多个 ISNS 过零。

    逻辑是:

    如果没有 ISNS 多次过零、则没有 LO 锁存器。

    如果有 ISNS 多次过零、LO 锁存取决于运行条件:

    -当比赛条件存在时、LO 闩锁存在、

    -当比赛条件不存在时,LO 闩锁不存在。

     如果在 iSNS 具有多个过零时没有 LO 锁定、则意味着这些特定操作中不存在竞争条件。

    总结:

    要消除 LO 闩锁问题、需要在外部消除 iSNS 多次过零、或者可以等待使用内部固定 IC (如果可用)。

    如果您在没有 iSNS 多次过零的情况下看到 LO 锁存、则会有所不同。 请告诉我们。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    闭锁波形

    这样、您可以解释低电平为关闭但高电平为打开的情况。

    通道1低电平

    通道2 RVCC

    CH3谐振电流

    通道4高电平  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您之前的波形始终存在多次过零。 您需要在没有多次过零的情况下显示 LO 锁存、因此我们可以将其视为另一个问题。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您需要显示 ISNS 波形以及 LO 锁存器、并且 ISNS 没有多个过零-那么我们可以将其视为一个新问题。 如果 iSNS 显示多个过零、则这不是新问题、我们回答了您最初的问题。
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    颜色

    很遗憾、您的 UCC256303设计出了问题。 请通过 wefaraci@ti.com 向我发送电子邮件、以便我们可以帮助确定解决此问题的方法。

    我将关闭此主题、因为我们将继续通过电子邮件提供支持。

    此致、
    Eric