[参考译文] UC2842A：输出引脚损坏问题

尊敬的 Vincent：

我需要将此问题提交给产品线中的 IC 设计人员。 我希望我们能在一天之内得到答复。

此致

Peter

文森特
感谢您联系我们。 是的、如果栅极电压高于 Vcc、则存在损坏风险。 我看到、您说 UC2842A 的输出直接在 IC 的引脚上测量。 在 UC2842A 的接地引脚、MOSFET 的源极或其他位置测量的探针的接地连接吗？ 该信号可能取决于测量技术。

这是什么拓扑？ 如果有高侧和低侧的半桥式堆叠 MOSFET，则当低侧开关关断且高侧开关导通时， 低侧 MOSFET 的漏极到栅极电容可能导致在高侧开关导通时将低侧开关栅极上拉更高、因为低侧开关的漏极快速上升至输入电压时、会导致快速 dV/dt。 您可以增大高侧开关的串联电阻以降低其导通速率、看看这是否会产生影响。

此致、
John

尊敬的 John：

组件工程师问了这个问题、他不能向我们透露太多信息、所以我不知道他们使用了什么拓扑、我所连接的电路和波形都是我现在掌握的信息。

如您所述、我将确认客户的测量方法、以查看他们是否已应用最短的探头环。 我还将要求客户增加高侧开关的串联电阻、看看它是否有助于减少输出引脚上的过冲。

非常感谢。

此致、

陈文森