大家好、团队、
根据 LM5023数据表、该器件使用变压器辅助绕组进行退磁检测、以确保准谐振运行(谷底开关)、从而更大限度地降低开关损耗。
根据数据表的图23和24、初级 MOSFET 恰好在 VDS 波形的第一个谷点打开。
然而、根据 PMP8655测试结果、 初级 MOSFET 在 VDS 波形的第三谷点打开。
设计中的哪些因素将决定此开关点？
不打开第一个谷值是否会导致最少的开关损耗？
此致、
Mahendra
您好、Mahendra、
感谢您的联系。 LM5023器件没有用于检测谷底的"真正"谷底检测机制、 相反，它会在 X'FMR 退磁后等待可配置的“延迟时间”tDLYQR，并感应辅助电压降至0.35V 阈值以下，然后再打开 FET“预测”振铃时间，使其达到最低值(即谷值)。 由于 VDS 振铃的谐振频率取决于初级电感和 FET 的 COSS、因此我们可以轻松预测谷值并设置相应的延迟时间。
该延迟时间由 CD 电容器的值以及 R1和 R2的值决定、有关更多详细 信息、请参阅 LM5023数据表中的第8.2.2.3节谷底开关公式52至55。
回到您的问题、是的、恰好在第一个谷底进行开关将具有更少的开关损耗、这是设计的大部分趋向。
PMP8865 在第三谷点开关的一个潜在原因可能是在高压线路条件下将开关频率保持在75kHz 以下、以便使二次谐波分量远离150kHz EMI 频带。 我们仍在与 PMP8655的设计人员核实这一点、其背后的原因以及在第一谷开关它可能带来的任何潜在危害。
请注意、PMP 设计通常是针对客户要求的特定应用进行定制的。 因此、这可能是应用的特殊要求。
我希望这将有所帮助、如果您有任何疑问、请告知我们。
谢谢你。
此致、
Wei-Hao
