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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/566244/ucc27517-ucc27517-latchup
你(们)好
数据表中没有闩锁数据。 你有数据吗？
此致、
本志本
Hamamotami-San、您好！
在器件资质认证测试期间、我确认 UCC27517通过了闩锁测试。 我必须确认所执行的闩锁测试的测试条件。
Richard Herring
您好、Richard - San、Peter - San
感谢您的支持。
我们的客户也想了解锁存测试的情况。
为了确定测试条件、我回顾了锁存测试的内部测试程序。 我们的闭锁基准 JEDEC JESD78 IC 闭锁测试的内部认证。
对于 UCC27517、闩锁的测试条件为：
输入和输出引脚：正负冲击电流+/-100mA。 电压限制：+20V、-5V。 (源电流始终限制为100mA)
VDD：正负冲击电流+/-100mA。 电压限制：+20V、-0.3V。 (源电流始终限制为100mA)。
在冲击电流之后：IDD 和引脚电流被监控为<1.4x IDD 和引脚预测试电流。
