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[参考译文] LP5907:远程输出电容器对 LP5907相位裕度的影响

Guru**** 2342720 points
Other Parts Discussed in Thread: LP5907
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/630652/lp5907-the-impact-on-phase-margin-of-lp5907-by-remote-output-capacitor

器件型号:LP5907

您好的团队,

关于 数据表的第12页,LP5907支持远程输出电容器,您能 回答 以下问题吗?

非常感谢您的支持。  

 

问题2. 关于 LP5907, 我发现使用4.7uf X7R 输出电容器时,瞬态性能良好(大约为50度),但 在实际项目中, 相位裕度会因实际项目中的附加输出电容器而降低(大约为30度) 。 例如,  对于一个真实项目,有0.1uf、10uf、4.7uf 和2.2uf 并联 ,以满足  RF、输出噪声...的要求。   

我知道 ESR 会因并联连接而降低,因此 ESR 的位置将会更改。  LP5907的交叉频率 为1.6MHz 至2MHz,ESR 零点的位置小于10*2MHz。   。

    分析此现象是否有任何其他原因(ESR 导致极点或零点的其他变化)?  以及如何解决负载电容器导致的相位裕度下降?

 

第三季度 我们知道 ESR 零点对基于 P-MOSFET 的 LDO 很敏感,如何定义真正的 ESR? 我的意思是,除了 LDO 数据表中显示的 ESR 值之外,LDO 或 DC-DC 中的哪条布线 应考虑 ESR ?

 

 

此致

Michael Yang

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    您好、Michael、

    请给我们一些时间来了解这一点。

    此致、
    Jason
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    您好的团队,
    是否有专业工程师帮助我解决此问题?
    LP5907选择哪种压缩模式?

    非常感谢!
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    您好、Michael、

    遗憾的是、我们无法讨论补偿我们的任何产品的方法、因此您的前两个问题中的大部分因竞争/知识产权原因而无法解决。  

    关于第二个问题中提到的相位裕度变化、似乎您可能超过了数据表中列出的最大电容、这可能会显著改变相位裕度。 请参阅数据表中的以下屏幕截图。  

    关于第三个问题、对于5m Ω 至500m Ω 的稳定性要求、应考虑什么 ESR、主要影响因素是

    1. 输出电容的 ESR
    2. Vout 引脚和输出电容器之间的迹线电阻
    3. GND 引脚和输出电容器之间的迹线电阻
    4. 电路板和器件之间以及电路板和输出电容之间的焊点增加了非常小的电阻。 与前三个焊点相比、这些焊点电阻可以忽略不计。  

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    您好、Bernard、
    明白了、我将删除与 LP5907的压缩模式相关的问题。
    非常感谢您的回复!