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[参考译文] TL431:稳定性边界条件

Guru**** 2409990 points
Other Parts Discussed in Thread: TL431

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/658448/tl431-stability-boundary-conditions

器件型号:TL431

你(们)好

我的客户有疑问。

"TL431"和"TL431Q"之间的负载电容是否会导致稳定性差异?
⇒客户使用"TL431"、当负载为1000pF 时、已确认输出振荡。
从应用手册中可以知道、这是因为容量大。
此外、客户还使用了"TL431Q"并确认其不会振荡
如果在负载上安装了3000pF。

2.图16 "稳定性边界条件"是否测试稳定性?
您是否对无缺陷产品进行了判断?

如果有一个器件在1000pF 时不振荡、是否存在老化导致振荡的可能性?

由于客户是非常紧急的情况、请尽快检查。

注意事项

T Kishi

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    尊敬的 T Kishi:

    1、2个器件的稳定性没有差异、但这是一个交流参数、可能有很大的差异。 没有 TL431应以1000pF 振荡、您能否再次确认此电容值?


    我们应该使用图18、因为它包含 TL431Q 的 Q-temp 器件。 图16和18是0度稳定性的典型值、制造过程中存在差异、但差异很小。 有关此图的更多详细信息、请参阅您 参考的应用手册

    3.我没有关于老化与 稳定性的测试数据。 但老化通常只会影响长期漂移、而不会影响器件功能。

    您能否向我们发送客户原理图或其他任何可帮助我们了解是否存在其他可能导致振荡的问题?

    -Marcoo

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    你(们)好、Marcoo

    感谢 你的答复。

    ℃确认客户在70 μ s 内振荡。 客户还确认了25°C/1500pF 时的振荡。

    检查的电路如下。

    "长期漂移"是否包括内部寄生电容等?
    例如、稳定性是否可能由于寄生电容变化或泄漏电流变化而变化?

    注意事项

    T Kishi

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    尊敬的 T Kishi:

    431 (无论制造商来自哪家)不太喜欢负载电容。 请注意、该稳定性曲线仅对典型器件有效、仅在室温下有效! 即使您略超出图的稳定性边界线、也可能会发生不稳定、并且振荡趋势会增加。 这与相位裕度的逐渐损耗有关。 因此、具体而言、在安全稳定性和振荡之间没有明显的限制。 另一方面、我不认为稳定性问题是长期漂移问题。 它与芯片制造的变化有关、从批次到批次。

    使用431时、有一条经验法则:保持远离稳定性边界线至少10倍。 因此、在您的情况下、即使是1000pF 的负载电容也会过大。 470pF 就足够了。

    使用431时、有一些补救措施。 在我的设计中、我遵循以下经验法则:

    1、省略任何负载电容。 如果需要降噪、请添加 RC 低通滤波器。 此滤波器的 R 至少为470R。

    2.或使用大于100µF μ F 的大负载电容。 重要提示:使用具有非抛光 ESR 的电容器。 或添加一个0R5...1R ESR。

    Kai
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    尊敬的 T Kishi:

    Kai 提出了有关431器件的稳定性及其负载驱动能力的要点。

    我将采取额外的步骤、尝试获取新的 TL431样片并测试电路。 根据您向我展示的原理图、器件在1000pF 时出现振荡、我感到很惊讶。

    -Marcoo

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    你(们)好、Marcoo

    它不一定会以1000pF 的负载电容振荡。
    客户表示是在一些批量生产的产品中发生的。
    即使您检查样本、也可能看不到这种现象。
    但是、在升高温度时、似乎很容易确认。

    注意事项
    T Kishi