This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] BQ25300:简短测试数据

Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25300
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1181832/bq25300-short-test-data

器件型号:BQ25300

在以下条件下、bq25300是否有短路测试数据?

・相邻引脚对引脚短路

・Ω SW 至 GND 短路

・Ω BAT 至 GND 短路

此致、

Satoshi

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Satoshi、

    我没有客户友好型报告可用。  提供保护以防止 SW 和 BAT 短接至 GND 造成损坏。  导致 IC 损坏的唯一引脚对引脚短路的是 BTST 到 GND (散热焊盘)和 PMID 到 BTST。

    此致、

    Jeff

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jeff

    感谢您的回复、

    请告诉我下面的其他问题和请求;

    ・除图10-6外、是否还有任何短路保护测试波形?  

    客户希望尽可能参考这些测试数据。

    ・如果 BTST 引脚~ PMID 引脚短路或 BTST 引脚~ GND 短路、这是否会导致电池过载?

    还是仅发生 IC 损坏?

    此致、

    Satoshi

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Satoshi、

    我已请求 e2e 的友谊、以便我们可以私下谈论这一点

    关于造成损坏的 BTST 短路、IC 已损坏、但 FET 未能打开、因此不会损坏电池。

    此致、

    Jeff