[参考译文] BQ25120：问题和说明

Paul、

很遗憾听到这个消息。 请告诉我您遇到了哪些问题。 我希望很快就能在数据表上澄清一些很好的问题。

以下是响应-
寄存器是否为非易失性？ 那么、如果我们写入它们、然后移除所有电源、它们的值将被保留(无限期)？
GR：否、寄存器返回到在生产流程中编程的设置。 在 BQ25120上、断电后、器件将返回到数据表默认值。

数据表将其描述为"OTP"、意思是"一次性可编程"、但我们相信它们可以随时更改。 是这样吗？ 如果是、能否改进数据表术语。
GR：我们在等待发布的更新数据表中删除了对 BQ25120 OTP 的引用。 是的、OTP 是一次性可编程的、我们在测试器件时将 OTP 刻录到生产流程中。


我们使用外部 MCU 通过 I2C 控制 BQ25120。 如果我们继续执行以下操作、寄存器看起来是易失性的？
连接 Vbat (例如4.2V)
我们看到 SYS 变为1.8V 默认值(正如预期的那样)
运行 MCU 代码对寄存器进行编程
我们看到 SYS 变为3.3V (正如预期的那样)
断开 Vbat (将其设置为0v)
重新连接 Vbat
寄存器被复位并且 SYS 再次为1.8V
GR：是的、这符合预期。 您需要在 MCU 启动时初始化寄存器。


数据表通常提及特定的 FET (例如"电池放电 FET")、但功能方框图仅将它们标记为 Q1至 Q7。 您能否为每个 FET 提供名称？
GR：Q1/Q2通常称为输入阻断 FET 或 ILIM FET。 Q7是电池耗散 FET 或 BATFET。 Q3和 Q4是直流/直流的高侧和低侧 FET。


当处于电池工作模式时、可通过将 CD 拉至低电平来停止 I2C 计时器。 当存在 Vin 时如何停止它？ 在这种情况下、切换 CD 只会更改充电启用/禁用。
GR：您是指看门狗计时器吗？ 是-如果 CD 为低电平、我们将仅禁用 BAT 上的看门狗！ 然而、当 VIN 被连接时、安全装置一直运行。


从其他线程看来、连接和断开 Vin (例如 USB)时会出现问题。 在新零件送达之前、批准的工作是什么？ 要禁用 VINDPM (通过寄存器0x0B VINDPM_ON = 0)？
GR：这是一个两步权变措施。 拔下 USB 插头后、VINDPM =禁用且 VBATREG = 3.6V。 我有一些即将发布的新器件样片。 如果您需要样片、请告诉我、我可以将其发送给您。

如果我们遇到故障(STAT_0 = STAT_！ = 1)、如何清除它？ 我们在这方面遇到了很多困难。
GR：您能否详细描述这些问题？

我们现在有几块使用当前 BQ25120器件组成的电路板、我们认为无法将其投入生产。 我们需要知道新的 BQ25120A 器件何时准备就绪、以便我们可以决定采取什么行动以及这将对我们的发布日期产生什么影响。 您能否提供当前发布计划？
GR：请允许我与您私下联系，了解日期。