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器件型号：LMG1210 大家好、
客户正在测试我们的 LMG1210、但在测试时遇到了一些问题。
它们现在将 LMG1210设置为 PWM 模式、EN/HI 引脚连接到5V 电源、信号发生器生成5V、2.5MHz、50%脉冲信号以驱动 PWM/LI。 两个信号都有一个20K 下拉电阻器。
加电后、它们测量了 LMG1210的 HO/LO 输出信号。 HO 始终为10V 电平、但 LO 信号正常、如下所示：
但随后、客户 将 VDD 的去耦电容值从100nF 更改为10uF、HO 的输出值变为5V。 此时、LO 的输出正常、如下所示：
原理图为：
他们怀疑芯片损坏了。 我们尝试自行更换芯片、但结果是 LO 的输出不正常。 LO 信号的输出频率与输入频率相同、但占空比完全错误、这会变成非常窄的脉冲。 HO 的输出信号完全变为低电平。
客户想知道在焊接过程中该芯片的耐高温程度、以及在高温下导致芯片击穿的时间。 当他们更换芯片时、使用的热风枪的温度为400摄氏度、使用热风枪的时间可能为1到2分钟。 这种情况是否会导致芯片损坏？
您是否有调试此问题的建议？
谢谢、此致、
Marc
