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[参考译文] BQ4050EVM-561:(CHG 和 DSG)、(xchg 和 XDSG)和(CHG_TEST 和 DSG_TEST)位之间的关系

Guru**** 2518730 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ4050EVM-561, EV2400

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/735678/bq4050evm-561-relationship-between-chg-and-dsg-xchg-and-xdsg-and-chg_test-and-dsg_test-bits

器件型号:BQ4050EVM-561
主题中讨论的其他器件: EV2400

您好!

您能告诉我(CHG 和 DSG)、(xchg 和 XDSG)和(CHG_TEST 和 DSG_TEST)位之间的关系吗?

我将 BQ4050EVM-561与 EV2400搭配使用、当我切换 CHG_FET_TOGGLE 和 CHG_FET_TOGGLE 按钮时、可以在寄存器位窗口中找到这些位。

我对以下一些问题感到困惑:-

1.  当 CHG_FET_TOGGLE 和 DSG_FET_TOGGLE 按钮按下后(xchg、XDSG)位变为高电平、(CHG_TEST、DSG_TEST、CHG、DSG)变为低电平或反向电平。

2.当 CHG、DSG 为低电平时 ,我按下 CHG_FET_TOGGLE 按钮,然后 CHG_TEST 和 CHG 变为高电平,XCHG 变为低电平,但充电 FET 未打开,电流表上没有电流。

3.当 CHG、DSG 为低电平时,我按下 DSG_FET_TOGGLE 按钮和 CHG_FET_TOGGLE 按钮,然后 CHG_TEST、DSG_TEST 和 CHG、DSG 变为高电平,(xchg、XDSG)变为低电平,然后再次按下  DSG_FET_TOGGLE 按钮, DSG_TEST 变为低电平, DSG、XDSG 变为高电平

此致  

Rahul  

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    您好、Rahul、

    我想告诉您、您的职位已分配给我们的一位应用工程师。 本周将举办我们的年度电池管理深度潜水活动、我们的所有工程师都将亲自动手参加该活动。 一旦此活动结束、他将能够在下周初发布您的帖子。

    您可以查看我们在 www.ti.com/deepdive 上展示的大部分材料的录音

    感谢您的理解!

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    您好、Rahul、
    以下是技术参考手册(www.ti.com/lit/ug/sluuaq3/sluuaq3.pdf)中 CHG_FET_TOGGLE 和 DSG_FET_TOGGLE 的定义

    ManufacturerAccess() 0x001F CHG FET 切换:
    此命令用于打开/关闭 CHG FET 驱动功能、以简化制造过程中的测试。 如果 ManufacturingStatus ()[CHG_TEST]= 0、发送此命令将开启 CHG FET 和 ManufacturingStatus ()[CHG_TEST]= 1、反之亦然。 仅当 ManufacturingStatus ()[FET_EN]= 0时、此切换命令才会启用、这表示 FW FET 控制未激活、并且允许手动控制。 复位会清除[CHG_TEST]标志并关闭 CHG FET。

    ManufacturerAccess() 0x0020 DSG FET 切换:
    此命令用于打开/关闭 DSG FET 驱动功能、以简化制造过程中的测试。 如果 ManufacturingStatus ()[DSG_TEST]= 0、发送此命令将开启 DSG FET 和 ManufacturingStatus ()[DSG_TEST]= 1、反之亦然。 仅当 ManufacturingStatus ()[FET_EN]= 0时、此切换命令才会启用、这表示 FW FET 控制未激活、并且允许手动控制。 复位会清除[DSG_TEST]标志并关闭 DSG FET。

    此外、[xchg]表示禁止 CHG FET 导通、[XDSG]表示禁止 DSG FET 导通。
    [CHG]表示 CHG FET 状态、[DSG]表示 DSG FET 状态。

    通常、这些命令仅用于测试、当您发出 FET_EN 命令时、监测计应自动控制 FET。
    此致、
    Swami