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[参考译文] BQ34110：在验证时、所连接的 SREC 会导致恒定数据闪存不匹配

admin
Guru**** 2519010 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/736679/bq34110-the-attached-srec-causes-constant-data-flash-mismatch-when-verifying-it

器件型号：BQ34110

我们的 EE 已完成基于附加电池 parameters.xls (用于创建附加 SREC)创建 SREC 的工作。

正如我们过去6个月所做的那样、我们提取数据闪存部分并将十六进制值填充到代码中(然后在产品加电时将其编程到 BQ 数据闪存中)。

遗憾的是、每次将 BQ 数据闪存编程到数据闪存后重新启动时、该特定 SREC 数据闪存都会导致 BQ 数据闪存无法验证。 不匹配的位置会发生变化。

如果我们从以前的 SREC 恢复以前的数据闪存、则每次重新启动时、数据闪存都会进行验证。

这意味着来自所连接 SREC 的数据闪存会导致自身不匹配。  

这是怎么做的？ 我们需要做些什么来克服这一问题？

e2e.ti.com/.../Battery-Parameters.xlsxe2e.ti.com/.../0110_5F00_0_5F00_02_2D00_bq34110_2D00_MC_2D00_Oct11.txt

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    TI__Guru**** 2519010 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Mark、您好！

    我将在结尾处尝试此文件、看看我可以找到什么。 我很快会回来。

    Matt
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    TI__Guru**** 2519010 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Mark、您好！

    我将继续并关闭此主题、因为我们已离线继续对话。 我认为问题是、多个数据闪存值将在器件正常运行期间发生变化(如了解的完整充电容量和寿命参数值)、因此不能依赖这些值来保持恒定。 有一个"F Static Checksum ("F 静态校验和")"功能可能会有所帮助。

    DF 静态校验和的工作方式如下。 对数据闪存设置进行编程后、您可以执行 static_df_sum MAC 命令来计算运行期间不应更改的所有数据闪存值的校验和。 如果返回值的低15位与"数据静态校验和"闪存参数中存储的值匹配、则返回值的 MSB 报告为0。 执行此命令后、您可以将返回值的低15位存储在此位置。 然后、在重新启动后、您可以执行 MAC 命令并检查 MSB、以查看 DataFlash 是否有任何更改。

    此致、
    Matt