主题中讨论的其他器件: CSD17313Q2、 CSD17318Q2
您好!
我们的其中一个生产设计存在问题。 在我们的模型中、ACFET 晶体管(仅此晶体管)在电池充电几分钟后会烧坏、这是不可忽略的部分。
我们使用的设计几乎是您提供的评估板的一个碳副本、即我们遵循了 EVM 原理图。
在之前的帖子中、您表示将 CGD 从4、7nF 切换到1nF 可能会解决此问题
https://e2e.ti.com/support/power_management/battery_management/f/179/p/514921/1870979?tisearch=e2e-quicksearch&keymatch=ACFET#1870979
但是、我们在输入端使用的15V PSU 具有高容性、因此绝不会出现"热插拔"情况。
以下是我们的问题:
1) 1)您认为进一步降低 CGD 还是将其删除可以解决我们的问题?
2) 2)您是否有任何建议、无论是为了进一步识别问题、还是为与在 EVM 上执行的操作不同的设计建议?
感谢你的帮助。
此致、