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[参考译文] CSD25402Q3A：如何测量连续漏极电流

admin
Guru**** 658810 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD16409Q3, CSD25402Q3A
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/713492/csd25402q3a-how-is-continuous-drain-current-measured

器件型号：CSD25402Q3A
主题中讨论的其他器件：CSD16409Q3、

您好、E2E、

我有一个(希望是)关于 FET 的简短问题。  特别是 我们的 CSD16409Q3和 CSD25402Q3A。  我们如何测试连续漏极电流？  FET 是否保持无限期运行(秒、分钟、小时、天不间断运行？？？) 或者、我们是否将其脉冲持续100ms？  我从这篇有关连续电流的博客中获得了100ms 的值：

我们非常感谢您快速而肮脏地解释我们的测试程序！  谢谢，度过了一个愉快的周末！

此致、

Russell

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    TI__Guru**** 658810 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Russell、

    所有 MOSFET 数据表中的连续漏极电流额定值都只是出现在您参考的博客中的计算。 器件未在生产中进行测试、仅在生产器件上执行"高"电流测试是电阻测试、测试器件的电流处于测试条件下。
    我们知道、有时硅基方程的电流额定值可能会超过封装能力、因此、在所有更新的数据表中、我们也会给出封装额定值。 这些是直流电流额定值、前提是您可以满足这些条件没有时间限制。 在短时间内、封装可以处理更高的电流、因此为什么脉冲额定值可能高于封装或芯片额定值、但在脉冲类型电流下持续运行会降低使用寿命。