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[参考译文] CSD16322Q5C：CSD16322Q5C 烧毁部件

admin
Guru**** 2493545 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/711561/csd16322q5c-csd16322q5c-burnt-component

器件型号：CSD16322Q5C

我们在调试站期间遇到了上述部件的烧毁组件、如果您过去看过、请告知我们。  潜在的根本原因是什么？  此器件用于我们的传统产品。

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    TI__Guru**** 2493545 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Quynh、
    感谢您发帖。
    FET 可能发生故障的潜在根本原因有很多、通常故障是由电气过载引起的。 这可能是器件上施加的电压或电流过大、导致器件短路并传导大量电流、进而导致器件烧坏或熔化、具体取决于电源的大小。
    这种过度压力的发生方式通常是最难找到的问题。 它可能是一个过饱和电感器、非优化布局导致器件中过度振铃并损坏器件、某些情况下的电路问题导致接地短路、器件本身问题由组装过程中错误的焊接覆盖/处理不当引起。 这些只是其中的几个例子。

    我建议您联系您当地的 TI 代表、获取有关您问题的特定帮助、并查看是否需要故障分析等项目。
  • 0
    TI__Guru**** 2493545 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    谢谢 Chris -

    我将很快与当地代表联系。

    Quynh