器件型号:TL432B-Q1
您好的支持团队、
我的客户正在使用 FIT 估算工具查找 TL432BQDBZRQ1的 FIT 率、他们没有什么问题。
1.为什么可信度只有60%? 我们能否提供90%的可信度数据?
2.使用温度是什么意思? 说明中显示了估算的使用温度、这意味着 IC 正常使用时的环境温度还是结温?
3.测试温度是指 IC 的环境温度还是结温?
非常感谢。
此致、
Wei-Hao
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器件型号:TL432B-Q1
您好的支持团队、
我的客户正在使用 FIT 估算工具查找 TL432BQDBZRQ1的 FIT 率、他们没有什么问题。
1.为什么可信度只有60%? 我们能否提供90%的可信度数据?
2.使用温度是什么意思? 说明中显示了估算的使用温度、这意味着 IC 正常使用时的环境温度还是结温?
3.测试温度是指 IC 的环境温度还是结温?
非常感谢。
此致、
Wei-Hao
您好、Wei-Hao、
我回答了以下问题。
问题1. 为什么可信度仅为60%? 我们能否提供90%的可信度数据?
A1。 TI 通常会报告60%的可信度、因为这是行业标准。 本 应用手册提供了一个计算90%时 FIT 率的公式。
TL432BQ 90%置信度、0.7eV、125C 应力温度和55C 结温的 FIT 率为1.39
问题2. 使用温度是什么意思? 说明中显示了估算的使用温度、这意味着 IC 正常使用时的环境温度还是结温?
答2. 为了 缩短测试时间、在高温下执行 FIT 率测试。 因此、您需要将应用中的温度从125C 降低到结 温。 结温越高、FIT 率越高。
问题3. 测试温度是指 IC 的环境温度还是结温?
答3. 测试温度是指 HTOL 测试中使用的温度。 通常、这些器件位于高温烤箱中、用于 估算使用寿命期间的情况。 测试方法在 JESD85中采用、因此这是一个行业标准。
-Marcoo
尊敬的 Ted:
公式2可能会引起一些混淆。 我在下面重新编写了它。
FIT 率=(Chi^2分布、2f+2其中 f =故障, 对于 X 可信度)* 1E9 /(2 *测试小时*样本大小*加速因子)
CHI^2分布可在下表中找到。 对于 TL431、60%置信度下的1次故障 = 4.04。 1 90%置信度下的故障= 7.78。
缺少的另一个数字将是 AF。 AF 可以通过多种方式进行计算、但下面的表格是最简单的方法。 在125C 至55C 的测试温度下、电动汽车为0.7、此值为77.6。
测试时间、样本大小 和故障可在初始帖子中提供的质量表中找到。 我使用了上述值、并在我的第一个回复中计算了90%的可信度。 根据我们的舍入量、最终值可能略有差异、但它们应大致相等。
我希望这有助于解决您的问题。
-Marcoo