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[参考译文] BQ78350-R1:短路保护失败

Guru**** 2492385 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ78350-R1, BQ76920, BQ76940

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/704778/bq78350-r1-short-circuit-protection-fails

器件型号:BQ78350-R1
主题中讨论的其他器件:BQ769200BQ76920BQ76940

您好!

使用 BQ769200 AFE IC 的 BQ78350-R1的适当短路保护设计有问题。 使用 OptiFes 对电池进行保护、两个并联 充电、两个并联放电。 晶体管的额定电流为100A。

放电保护中的短路配置如下所示。锁存和正常保护在设置中均启用。 经测试可正常工作、如果存在短路、则闭合 FET、10s 后断开和闭合、然后闭锁240秒。 在办公室进行的简短测试中、我们未观察到温度上升。

 在15分钟保护失败且电池烧坏后、认证机构在50°C 下进行的1小时短路测试期间。

那么、我的问题是、BQ76920中设计的短路保护失效的可能目的是什么?

第二:过热保护失效的作用可能比什么更重要?

第三:是否有任何方法可以配置或设计更可靠的保护以防止长时间短路、例如、如果超出锁存限制、则防止恢复? 使用 BQ769200和 BQ78350-R1。

请提供任何帮助。

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    配置屏幕、因为连接到原始开机自检失败。

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    您好、Adrian、
    bq78350-R1可实现基于时间的短路恢复。 基本上、它将在一段时间后重试、以查看是否再次出现短时间。 在继续试验之前、锁存器可以允许更长的时间、但其中一个最大时间为255秒(大约4 1/4分钟)。 如果在此期间 FET 没有充分冷却、则需要 PRES 等信号序列从 SCD 故障中恢复可能是一个更好的选择、请参阅技术参考手册的第3.1.3节。
    对于低侧开关系统、请参阅3.6.2中提到的 LPEN 选项。 LPEN 使用 bq76940充电引脚上的负载存在比较器进行检查、然后再启用恢复。 由于电池组引脚上的下拉电阻较弱、电容负载可能会使恢复速度非常慢、或者残余负载可能会阻止恢复、也可能需要连接具有电压的充电器才能从故障中恢复。 当 CHG 引脚被缓冲或被用于一个高侧开关时、负载存在比较器不有用。
    此外、对于并联 FET、请确保 FET 在开关期间不会振荡、这可能会增加在更正常的情况下可能不存在的热量。
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    对于高侧 FET、谢谢您、如何从 SCD 故障中恢复。
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    您好、用户:
    请参阅技术参考手册第3.6.2节"放电保护中的短路"。 不使用 LPEN。 另请参阅第3.1.3节、PRES 允许基于硬件信号的恢复、而不是基于时间的恢复。