您好专家、
客户正在测试 t_window 作为其生产测试。
用例:可编程窗口时间, 外部电容器180pF +/-5%
根据数据表 计算、典型值为78.6ms。
根据数据表计算、最小值为56.2ms。
测试数据的可用时间为68.2ms
测试数据的最小 计算限值接近于 典型计算值
(来自数据表)
您能否就这种价值转移的原因向我提供您的建议?
-这是由器件变化引起的? 最初倾向于偏置到下限?
-如果它们使用小电容、数据表中的典型值将会因内部特性而发生变化?
-还是针对灵敏度电容的电容器特性?
等等
谢谢
穆克