请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号:BQ34110 我们在上电时重新对数据闪存进行编程(如果我们期望的 DF 版本不匹配)。
我们注意到、当我们这么做时、数据闪存中的周期计数字段被重置。
我们想知道、当我们对数据闪存进行重新编程时、是否有任何其他值(内部寄存器)在 bq 器件中被复位/擦除/覆盖、这些值会对 bq 操作产生不利影响(例如累加电荷、累加充电时间、上次累加电荷、最后累加时间、SOH/运行状况)、 DCR/放电计数寄存器等)。
我们需要知道、如果我们在现场更新产品的固件(新固件包含新的数据闪存映像、导致我们擦除/重新编程数据闪存)、则会导致在更新之前因产品操作而累积的 bq 操作信息丢失。