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[参考译文] TPS737:TPS73701环路测试失败

Guru**** 2492385 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/704151/tps737-tps73701-loop-test-is-fail

器件型号:TPS737

TPS73701原理图如下。°°°C241测试相位和增益裕度、当负载为0.25A 或0A 时相位值小于30 μ s;当负载为0.5A 时相位大于30 μ s。如何优化设计以确保相位值大于30 μ s。请提供一些 建议,谢谢!

原理图:

0A 负载下的波特图:

负载为0.25A 时的波特图:

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    输入电压为5V、输出电压为1.8V、最大负载为0.5A。

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    您好,

    如您所知、LDO 的相位裕度取决于 LDO 暴露的条件。 从应用的角度来看、影响相位裕度的唯一方法是调整前馈电容(您的应用中的 C241)和输出电容。

    以下应用报告讨论了前馈电容器如何影响稳定性。

    www.ti.com/.../sbva042.pdf

    以下应用报告讨论了输出电容器如何影响稳定性。

    www.ti.com/.../snva167a.pdf

    由于通常存在内部前馈电容器、因此无法真正断开反馈环路、因此很难测量现代 LDO 的相位裕度。 以下应用报告讨论了如何将瞬态响应等同于相位裕度。

    www.ti.com/.../slva381b.pdf

    非常尊重、
    Ryan
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    非常感谢。

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    您好 Ryan,
    打扰一下,?TPS73701中是否有内部前馈电容器
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    您好,

    我对这种混乱表示歉意。 TPS73701没有内部前馈电容器。

    我的注释旨在对线性稳压器通用、而不是专门针对 TPS73701、因为所有 LDO 的相位裕度改进方法都是相同的。 我还想告诉大家、并非每个 LDO 都能直接测量相位裕度、我想提供在应用中检查稳定性的推荐方法。

    非常尊重、
    Ryan
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    您好 Ryan,

      感谢您的回答。