[参考译文] bq20z45-R1：即使充电 FET 关断、也会发生 CFETF 故障

我们没有日志、因为错误发生在现场。  与电池通信的充电器、通常充电电压为16.1V。  一些传统充电器尝试将电池充电至16.8V。  在实验中、电池的充电 FET 将关闭、电池将正常。   e2e.ti.com/.../Failed-_2D00_-Copy.txt

这是 gG 黄金文件(我必须将其重命名为 txt 文件。  此论坛不会采用.gg 或.senc)

e2e.ti.com/.../Golden.txt

对、该器件会检查是否存在意外充电电流流动、在检测到该电流超过 FET 失效时间后、该器件会触发 CFETF PF。  正如我们所述、一种可能是实际电流流动、例如 FET 发生故障或某些导致电流流动的电路板泄漏。  另一种可能是电流实际上不流动、但监测计认为存在这种情况。  这可能是由于器件损坏造成的、也可能是由于校准设置错误造成的、例如大偏移、这会使器件认为即使在零时也存在电流流动。

我看到您的黄金负载具有与故障包相同的 Ra、因此似乎没有电阻更新、因此故障可能几乎立即发生、然后再进行任何实际放电。  

我看到故障电池组中有电路板失调电压、您是否检查了该电路板在零电流流动时报告的电流？  您是否有关于用于常规生产(或至少许多其他封装)的典型电路板失调电压值的数据、以查看它们是否处于与此类似的范围内？

关于寿命电流的项目是奇数、我看到 黄金文件中的寿命最大 DSG 电流为-1000、也许在运行期间没有更新。  我还看到 您的终身最大 Chg 电流= 4145、您认为这是准确的吗？  您是否具有4.1A 的充电电流？  我认为这可能是对正在发生的事情的线索、只是不确定到底是什么...

另请注意、您的黄金电池组中的 CC 增益为10、而故障电池组中的 CC 增益为5。  您还可以检查哪一个是正确的、也许您的所有电池组都已校准到~5、而10只是占位符？

我不是百分百肯定的、但是我觉得客户把电池开箱放在充电器上。  对于直接从生产开始处于存储模式的电池、此步骤是正常的。  另请注意、我们知道有20-30个类似的故障。

我在没有连接负载或充电器且电流为0时检查了电流。  (此测试也是作为生产中的线路测试的终点进行的。)

根据充电器的不同、大多数充电器的充电电流约为4A 正负250mA。  4145mA 似乎正常。

我们故意将10作为占位符、以便我们知道包装已校准。

以下是随附的电源电池故障日志。  不要介意一开始缺少的一些数据、我们的 MCU 仍在与 bq 器件通信、并在测试期间的某个点将其关闭。  它在第4695行失败。  您可以看到、当充电电流为3059mA、 经过20秒时、由于仍有大约80mA 的电流流动、FET 会关断、然后触发错误。  FET 关断后、电流永远不会变为0。  如先前的样本所示、电流为0。

话虽如此，新的问题是：

如果电池校准正确且充电 FET 关断且充电 FET 处于工作正常、那么为什么会有电流流动？

e2e.ti.com/.../Copy-of-Rev6gg_5F00_powerSupplyLog.xlsx

无负载、这是电池组正在读取的充电电流。  我怀疑大尖峰可能会超过20秒。  但是、如果出现较大的尖峰、器件和支持电路是否能够自我保护？  对我来说、20秒似乎是一段很长的时间。  电池组由电源供电(17.2V @ 3.5A)。  当充电 FET 打开时、电源正在尝试为其提供大量功率。

电池被粘结关闭、可能很难打开。  我可以尝试打开一个、使其再次失败。

当电池返回给我们时、我们只需清除 PF。  除了 PF 之外、电池似乎正常工作。  我们能够打开几个电路、并确保在编写此帖子之前不会损坏电路。  我们已将此器件用于具有相同原理图但不同图的其他电池中。  一些产品已在该领域使用了多年。  请注意、其他产品的充电电压范围为16.8V。

该器件似乎未损坏、因为在清除故障后、电池可以按照预期方式打开和关闭 FET。  

我们在实验中有几个失败了、但这是我唯一能够生成日志的失败。  我们在实验室中只有几个电源、有些电源正用于其他用途。  

现在您知道我们没有使用负载、有什么意见吗？

当我再次出现故障时、除了测量感测电阻外、您还需要什么？  (测量低至0.0004V =[0.08A * 0.005 Ω]的电压可能对我们来说很困难、因为我不确定我们是否有测量该电压的设备)。

还有其他想法吗？

我们如何与您的团队一起提升这一水平？  我们目前将停止生产。

我们能够让电池打开、并在电池发生故障时使用正确的工具来测量感应电阻器。  没有真正的充电电流流动。  请参阅随附的日志(1576失败)。

e2e.ti.com/.../rev6gg_5F00_powerSupply500msLog.log

在条目894中、我看到 FET 从6->2变为。  输入895的电流读数为91mA。  

我们使用的是常规电源、没有任何异常行为(据我所知)。 (领导者790-3D、30V 3A 电源。)

我将以较低的电流重新运行测试、并返回给您。

尊敬的 David：

我理解您的立场、我希望我们已经确定原因、现在就着手解决。  我也在征求我的几位同事的意见、但到目前为止、我们还没有发现任何明显的错误。

您有多少个电池组会出现此问题？  您是否对统计数据有多少个数据包显示此情况有一个大致的了解？  您能否从所有问题包中收集 IC 标记、以便我们可以查看它是否与特定器件批次相关？

如果您有多个问题包可以重现问题、则可以发送一个问题包、前提是我们可以直接连接到问题包并与之通信。  您提到过、有一个定制板可在 FET 关断时促进 SMBus 通信、我们也需要这样做吗？

谢谢、

Terry

Terry

我们使用以下设置在周末运行了测试：

-充电器上的2节电池最初导致此故障(在电源上重新创建 Jervis 之前)

-每2秒使用 BQ 软件记录一次

-每2秒记录一次使用运算放大器电路检测电阻器上的电流。

此测试的目的是验证与 Bq 的读数相比、外部电路的读数是多少。  人们会认为、如果 BQ 器件测量大于 x 毫安的电流超过20秒、则另一个器件应测量相同的点、应捕获相同的东西。  

两个电池组都发生 CFETF 性能故障、一个在大约6小时后、另一个在17小时后。  下面是对比图。  CFETF 发生故障时、BQ 的测量电流未降至~0mA (充电电流约为80mA)、而运算放大器(差分放大器)的测量值约为1.7mA。  请参阅以下内容：

谢谢、

Mike

Terry、

请提供更新吗？  您几天内没有回复、我需要获取更新。

Dave

尊敬的 David：

我自己不在办公室、但我的同事仍在处理、我会让他们直接回应。

谢谢、

Terry

BATT/Terry、

是否可以获取每日更新？  这些更新不必通过此论坛。

1.我们现在在哪里？   

2.谁在做什么，何时做？

3.时间表是什么？

4.我们应该做些什么？

该产品仅使用了几周、我们已停止生产。  无生产意味着无收入。  这个拼图有很多部分、每个人都在问问题、最后我会提供诸如"TI 正在处理它"之类的更新。  正如您可以想象的那样、有些人对此更新不满意。  这有道理吗？  是否可以回答我的问题？

BATT、

感谢你的答复。  感谢您了解我们需要保持在环路中。  

能否传达一些粗略的日期？  是一天、一周、一个月、几年吗？  我需要告诉我们的团队我们的期望是什么、包括我们的合同制造商、计划等

Dave

BATT、

在接下来的几天内、Dave IT 离开办公室、但我将在此主题上与我联系。

感谢您的更新。

Jason

BATT/Terry

关于我于8/20发送的测试数据、我设置了另一个电流测量测试。  我不直接测量感测电阻两端的电流(正如我使用来自8/20的数据所做的那样)、而是测量了更靠近 BQ 器件的电流。  我这样做是为了确定是否有噪声沿着感测线路被拾取、从而导致某种错误的电流读数。  这种情况总共运行了大约一周、但未发生故障。  但是、我们注意到了一些我发现很有趣的东西。  

当我们在8/20上完成测试时、电池组都出现了 CFET perm 故障。  我取出其中一个电池组、从 PCBA (电池+)上脱焊电池组顶部。  我将运算放大器电路解焊接在检测电阻器上、并将其焊接到更靠近 BQ 器件的两个元件上。  接下来、我重新焊接了电池+、以便为电池组重新供电。  在此过程中、当我退出密封访问、清除 PF 并复位(0x0041)时、我碰巧让记录器运行。  在此期间、我测量~80mA 的充电电流(在我的工作台上处于空闲状态)、当电池组最终清除上述所有内容时、该电流完全消失。  请参阅图：

在某一时刻、它从大约80mA 下降到刚好低于50mA。  我认为当我退出密封访问模式时会发生这种情况、但当我清除 PF 时可能会发生这种情况。  最后、所有电流都降至0mA。  我发现这很有趣、因为当时看起来有电流在流动、除非是内部电流、否则我无法确定电流路径。  另一个有趣的是、80mA 没有显示在8/20数据的末尾、因此我不确定是否是我所做的事情导致了这种情况。

请告诉我您对这些数据的看法

谢谢、Mike