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器件型号：BQ20Z655-R1 我对我们目前在某些产品中使用的 BQ20Z655-R1芯片有疑问。 使用 MIIC 203 iPort/AFM I2C 主机适配器对其中的一些芯片进行编程时、一些校准数据会损坏。 我可以使用 bq 评估软件来查看校准区域是否不正确。 为了 处理这些错误、我们希望尝试使我们的代码更加稳健。 我遇到的问题是将字节数据转换为我无法使用的数据，以查看像 CC 增益这样的值是否在该芯片的最小值和最大值范围内。
例如、使用 MIIC 203 I 可以读回 ~15~81~6E~90~04~94~07~B7~31~5F~93~05~08~56~22~F8~C0~FF~63~00~FB~00
正确校准的产品。 ~15之后的前4个字节(~81~6E~90~04)将是 CC 增益。 如何将其转换为可与 BQ20Z655-R1的 CC 增益最小值和最大值进行比较的值？ 有关如何转换 cc Delta、参考电压、AFE Pack 增益、CC 偏移和电路板偏移的相同说明将非常好。
我已联机查看，但无法找到此信息。
我在用于 校准的 bq 评估软件中看到的正确数据示例：
如何将 DF 数据转换为 BQ 评估软件中显示的数据？
