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[参考译文] BQ25895:关于 D+/D-检测时间与放大器;流量问题

Guru**** 2487425 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/701401/bq25895-about-d-d--detection-time-flow-question

器件型号:BQ25895

您好、先生、

客户遇到了与以下问题相同的问题、他们希望了解 D+/D-检测时间和流明详细信息、您能提供帮助吗?

e2e.ti.com/.../628921

问题1. 充电端口检测时间最长是多少?

问题2. 每种类型的检测周期和顺序是什么?

问题3. 您能否提供参考固件过程、以便使用 DSEL 引脚控制 USB D+/D-开关?

问题4.  您能否提供参考固件流程、以便使用 MCU 的 I/O 引脚控制 USB D+/D-开关?

问题5. 如果 MCU 无法接收 INT、是否有其他方法可以判断检测是否完成?

问题6. 读取/写入寄存器期间是否需要延迟时间? 如果是、该时间有多长?

谢谢

此致、

Ken

 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    关于 Q1和 Q2:

    为 REGN 加电 - 220ms

    不良源检测-+30ms

    第1个 INT 脉冲-加电后 VBUS_GD @~250ms

    USB BC1.2 (SDP/CP/DCP)-最小+80ms 、最大580ms (如果需要、可通过500ms 的时间进行数据接触检测)

    非标准适配器检测-+500ms

    如果启用、HVDCP 检测-+1700-2200ms

    第2个 INT 脉冲- IINDPM 寄存器被自动置位、如果快速 BC1.2识别 为220ms+30ms+500ms+2200ms、则 VBUS_STAT、PG_STAT 被更新为@~220ms+30ms+80ms、如果 HVDCP 从加电状态检测到、则被更新为220ms+30ms+500ms+2200ms

    第3个 INT 脉冲-相对 VINDPM 在 VBUS @无负载测量之后更新

    关于 Q3、您在上面提到的 e2e 帖子 总结了 DSEL 驱动 USB 开关的设置以及如何解决 CDP 限制。

    关于 Q4、MCU I/O 控制开关的最简单解决 方案是在上电后等待3秒钟、以便从 USB 线路上移除充电器 D+/D-引脚、并防止 USB 主机同时在这些线路上进行通信。

    关于 Q5、MCU 可以读取 VBUS_STAT 和/或 PG_STAT 寄存器以确认检测完成。

    关于 Q6、充电器寄存器 与高达400kHz 的 I2C 兼容。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jeff:

    感谢您及时、友好地支持本案例并详细说明每个问题。

    让我看看他们是否还有其他问题。

    此致、

    Ken

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jeff:

    客户询问此部件是否有 其他限制?

    您能像您所知道的那样分享您的经验吗?

    谢谢

    Ken