[参考译文] BQ27510-G2：bq27510制造商信息块 A：间歇性发送校验和会导致不确认

您好、Onyx、

我已经阅读了 SLUA801、我认为我的计划遵循了文档规定的内容。  每个命令的参数都在源代码中硬编码，每次程序解锁制造商信息块 A --写入数据--写入校验和--密封内存块时，发送到电量监测计芯片的唯一不同之处在于数据和校验和。  如果发生故障、则仅在写入校验和时发生；我用于发送任何命令的方法、称为 I2CTransfer method、返回 false、错误代码为-7、表示不确认。   

在数据中写入数据后、我的程序会发送命令以读回数据并将其与发送的数据进行比较。  即使在校验和命令失败后、此读取命令仍会成功并返回数据、 在失败后、读取数据将返回旧数据、而不是写入校验和失败之前发送的数据。

我更改了逻辑、使上述写入数据序列重复4次、直至写入成功。  这种变化不起作用。  如果写入校验和、则永远不会恢复。  但正如我在上面写的那样、在4次失败后、读取数据命令成功、电量监测计返回了在上次成功写入校验和中写入的旧数据。

我确认、除了上述序列中包含的命令之外、没有其他命令发送到电量监测计。

电量监测计未返回确认的原因可能是什么？

Jun Inagaki

新生物医学公司

马萨诸塞州沃尔瑟姆

您好、Onyx、

感谢你能抽出时间。

我正在测试最终的产品级别、在 SDA 或 SCL 上设置探针有点困难。  

校验和失败时、我自己计算校验和、我计算的值与发送的数字相匹配。

这是计算的源代码。 我认为是正确的。

bool writeMfgBlockData( byte* b，int size )

｛

unsigned char bchksum = 0；

unsigned int uitemp = 0；
for (int i = 2；i < size + 2；i++)
｛
wbuf[i]= b[i - 2]；//加载剩余的字节
uitemp += wbuf[i]；//我们也可以在它的时候添加校验和
｝
uitemp = 0x00FF - uitemp；
bchksum = uitemp；//对校验和执行补码、BQ27510-2G 要求

｝

b[]保存数据，大小设置为32。  由 bchksum 保存的值是校验和。

先发送 wbuf、然后立即发送 bchksum。

电量监测计逻辑不接受校验和的条件是什么？   

6月

你(们)好
条件是：校验和错误、以及命令之间没有足够的延迟。 您能不能增加延迟。

我知道您正在进行产品级测试、但您应该能够拥有一个测试单元、您可以放置探头和测试点来解决您的问题。

谢谢
Onyx

尊敬的 Dominik：
感谢您的回答。
我发送的数据与之前未能将校验和写入电量监测计的数据完全相同。 调试信息显示的程序发送的校验和与之前相同、这次写入通过的校验和。 显然、校验和故障与校验和本身的值无关。

>>"如果监测计插入校验和、那么在校验和之前接收到的新数据块将不会计算与写入0x60相同的校验和。"
如前所述、校验和值与我手动计算的校验和不匹配。 我布置的校验和计算逻辑遵循 TI 文档的规定：取32字节值之和。 取和的最低有效字节并将其从0xFF 中减去。 结果是校验和。