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[参考译文] BQ24297:BQ24297 BC1.2合规性测试

Guru**** 2386620 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ24297
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/718711/bq24297-bq24297-bc1-2-compliance-test

器件型号:BQ24297

您好、先生、

我的客户使用 BQ24297来实现 BC1.2合规性并失败。

请参考随附的文件。

e2e.ti.com/.../TEXAS-BC-1.2-test-FAIL.pptxe2e.ti.com/.../Dead.txte2e.ti.com/.../good-battery.txte2e.ti.com/.../weak.txt

1.您知道测试失败的原因吗?

2.对于另一个问题、E2E 链接下的内容是"连接 USB 设备后、充电器将操纵最多1秒的线路来执行检测例程。  "

  

为什么需要1S、它是否在 BC1.2合规性中定义? 我怀疑这种失败与它有关吗?!

3.在数据表(表2)"0.5秒计时器在 DCD"中过期"中、如何得到0.5秒? 也来自 BC1.2合规性?

谢谢~

此致、

Driscoll

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    嗨、Driscoll、

    1.我在测试报告中注意到、您已将充电器分类为"[1.263,831]*不支持使用电流源的 DCD "。 这是不正确的。 BQ24297使用电流源执行 DCD。

    在继续之前、我会先纠正这一点。  

    在 BC1.2合规性文档和规范本身中、1s 时序被标记为 TSVLD_CON_PWD。 有关详细信息、请参阅。 此外、 还有一个单独的 TDCD_TIMEOUT 应用于数据接触检测、也在规格范围内。 最大值可达900ms、但可以更低。

     TDCD_TIMEOUT 也适用于此问题。 该计时器的范围介于300和900ms 之间。 请参阅您在帖子中附加的 BC1.2合规计划。

    此致、

    Joel H

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    您好、Joel、

    关于第一项:

    Allion Lab 回复说、他们采用默认设置通过仪器 MQP 进行测试。 我要求使用使能 DCD 再次测试。

    您是否知道我应该启用的任何项目、如下所示?

    此致、

    Driscoll

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    您好、先生、

    你有什么建议吗?
    谢谢~

    此致、
    Driscoll
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    嗨、Driscoll、

    我不熟悉此 GUI 或如何设置此环境。

    我想、根据我的评论、需要检查"DCD 电流源"以进行此测试。 但是、我无法明确地与该 GUI 上的其他复选框进行对话。  

    此致、

    Joel H

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    您好、Joel、

     这是使用 DCD 校验的 Allion 重新测试。 您对此有什么建议吗?

     和日志文件以进行 DCD 检查。    

    e2e.ti.com/.../Log-File-_2800_for-DCD-check_29005F00_20180822.zip

     DCD_CHECK:失败

     使用电流源的数据接触检测测试

    [1.587,591] 10. 检查 D+上的电压是否小于0.375V。 这证明了这一点

                      IDP_SRC 和泄漏电流加在一起足够低、可以提供低电平

                     D+上的逻辑电平、即使在接近 TDCD_DBNC 最小值(10ms)后也是如此。

                    实际测试脚本中使用的0.380V 电压可用于小型测试仪

                      泄漏。) [PD9]

    [1.587,595]  - D+上的电压为0.594V。

    [1.587,598]  失败:最坏情况下的下拉无法将 D+拉至足够低的水平。

    ……………μ A 。

    [4.798,895] 16. 检查 D+是否降至 VDP_SRC (0.5

                        到0.7V)、在 VBUS 开始的 TDCD_TIMEOUT (0.3到0.9秒)内

                         打开。 [PD6]

    [6.574,185]  -在1986.4ms 的 VBUS 达到0.8V 后、D+降至0.7V。

    [6.574,185]  失败:TDCD_TIMEOUT 不在0.3s - 0.9s 范围内。

    [6.574,189]  失败:在 TSVLD_CON_PWD 内未检测到主检测

                    最大值(1秒)。

    [6.574,192] 17. 断开所有与 VBUS 的连接、并关闭 VBUS。

    [6.574,255] 18. 忽略 SRP 脉冲、等待8秒钟、以允许断开与的连接

                   进行检测。

    [14.574,286]未通过测试-(不阻止进一步测试)。

    此致、

    Driscoll

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    嗨、Driscoll、

    让我回顾一下这些数据并返回给您。


    此致、
    Joel H

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    嗨、Driscoll、

    因此、我检查了 EVM 上的 D+值、并看到~204mV 的持续时间大约为16ms。

    我会要求您检查 DUT 的 D+连接点与实际充电器 D+引脚之间的线路电阻。 充电器的 D+引脚和 PCB 的 USB 连接点之间可以放置一个最大电阻。

    请检查此项。


    此致、
    Joel H