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器件型号：LM5069 我需要测试 LM5069-1部件的运行情况。 我获得了 LM5069EVAL/NOPB 板、并交换了电路板随附的 LM5069-2器件、用于同时订购的 LM5069-1器件。 它需要在大约18.5V 时打开、在大约31V 时关闭。 电流限制约为2.5A、功率限制约为10W。
我更改了：
R1 = R2 = 23.7K
R3 = 2.1K
R4 = 3.83K
将跳线 J1移至1-2以支持单独的 OVLO/UVLO 分频器。
移除了电路板 Vout 路径上的2个100uF 电容器。
RSense = 0.025 Ω
R9 = 31.2K
UVLO 和 OVLO 开关点足够接近、电流限制可接受、功率限制略低、但足够接近。
问题是 LM5069-1器件在启动失败后连续重试、而不是锁存。 我检查了部件标记、以验证我安装的部件实际上是-1个部件(SNAB)。
我们的应用需要该器件锁存。
测试是在评估板旁边的电阻(主要是13欧姆负载)、极短的输入接线和4000uF 电容条件下完成的。
配置或评估板是否存在导致 LM5069器件重试而不是锁存的问题？
感谢您提供的任何帮助。
