您好!
此设计使用 GaN-FET 的二次谐振:一次侧钳位电容器为1uF/陶瓷;二次侧谐振电容器为33uF/25V。
测试条件为:Vin=390Vdc、Vout=9Vdc、Iout=1.2A。
我发现第二个谐振电流与第一个谐振电流不同。
为什么会出现这种异常的苯胺? 如何解决?
BR
陈十一
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您好!
此设计使用 GaN-FET 的二次谐振:一次侧钳位电容器为1uF/陶瓷;二次侧谐振电容器为33uF/25V。
测试条件为:Vin=390Vdc、Vout=9Vdc、Iout=1.2A。
我发现第二个谐振电流与第一个谐振电流不同。
为什么会出现这种异常的苯胺? 如何解决?
BR
陈十一
尊敬的 Eleven:
很遗憾听到您的隐藏侧 GaN 损坏。
您是否仔细重试?
您是否还同时捕获初级侧波形?
因为初级侧接地和次级侧接地不同。
您提到 Rcomp 很有用。 您是指 更稳定的 ABM 模式吗?
基本上、我们不建议低于500KOhm。
因为 Rcomp 过小会影响启动和 OPP。
较小的 Rcomp 将导致较小的 Vcst 和 IPEAK。
此致
Kevin