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[参考译文] UCD3020和 UCD3xxx 器件 GUI 的问题

admin
Guru**** 2482225 points
Other Parts Discussed in Thread: UCD3020, TMS470R1A256

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/697501/a-problem-about-ucd3020-and-ucd3xxx-device-gui

主题中讨论的其他器件：UCD3020、 TMS470R1A256

当我将 UCD3xxx 器件 GUI 与 UCD3020配合使用时、我遇到了问题。
我想使用内存调试器、但当我在单击设备 ID 后单击内存调试器时、会出现一个警告窗口。
窗口中的信息：
在 EVMPSFB00 @ 88d 上、此功能在程序(闪存)模式下不可用。 该器件不支持 parm_info 和 parm_value 命令。 当 IC 处于程序(闪存)模式时、这些命令用于访问/插入存储器。 请查看您的命令位掩码或联系 TI 获取准。

您能帮我解决这个问题吗？

  • 0
    TI__Guru**** 2482225 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您所面临的问题是由您使用的固件引起的。
    固件必须非常旧、并且缺少支持内存调试器所需的内容。
    您使用的是哪个固件版本？ 是谁开发的？ 它来自哪里？

    您可以选择：

    1) 1)使用 UART 进行调试
    2) 2)将项目转换为 CCS5兼容项目 或更新版本、以便您可以使用 JTAG ( 需要修改固件)。
    3) 3)添加存储器调试器所需的支持( 需要固件添加和修改)。

    选项 1)是最简单的选项。

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    TI__Guru**** 2482225 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    感谢您的回答！
    我选择选项2)。 但是、当我将项目转换为 CCS5兼容项目时、我无法使用 XDS100V2。
    您能告诉我我可以使用哪种类型的仿真器吗？
    谢谢！
  • 0
    TI__Guru**** 2482225 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    XDS100V2是一个不错的选择。 您收到了哪种类型的错误消息？ 它是否通过了连接测试？

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    TI__Guru**** 2482225 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢你。

    t

    这些 是我在 CCS3.3中的项目文件属性。

    当 我在 CCS6中选择器件时   、选择了 TMS470R1A256。

    但无法通过连接测试。

    我 的 XDS100V2是否损坏？

    我是否选择了错误的器件？

    谢谢你。

  • 0
    TI__Guru**** 2482225 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    这是我收到的错误消息：
    连接到目标时出错：
    (错误-1060 @ 0x2E1A)
    设备未响应请求。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。
    (仿真包6.0.407.3)
  • 0
    TI__Guru**** 2482225 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    [开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

    执行以下命令：

    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

    [结果]


    ---- [打印电路板配置路径名]---------------

    C：\Users\yhr\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
    TI\0\BrdDat\testBoard.dat

    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

    此实用程序已选择100或510类产品。
    此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
    图书馆的建造日期为"2016年7月27日"。
    库构建时间为'18：31：37'。
    库软件包版本为'6.0.407.3'。
    库组件版本为'35.0.0'。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。

    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

    扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
    控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
    从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
    该软件配置为 FTDI FT2232功能。
    控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
    控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
    控制器无法控制输出引脚上的时序。
    控制器无法控制输入引脚上的时序。
    扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

    ---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

    没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

    ---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

    没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

    ---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR 指令路径长度测试失败。
    JTAG IR 指令扫描路径卡在零。

    JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
    JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    已提供前8个错误的详细信息。
    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：1
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：5
    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG IR 完整性扫描测试失败。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
    已提供前8个错误的详细信息。
    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：1
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：5
    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG DR 完整性扫描测试失败。

    [结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]