[参考译文] BQ40Z60：不能切断 DSG FET 保护，导致 MOS FET 烧毁(CHG &放大器；DSG FET 独立路径设计)

您好、Terry：

感谢您的解决方案、

根据您的建议、我尝试在 HSRN 和 PGND 之间添加1K 电阻器(甚至低至500R)。
并在 FET 关闭和充电器打开下进行测试(19V 维护)
DSG FET (VGS)中仍然存在较小的泄漏电压(大约1.5V 至1.8V)、这会导致 DSG FET 导通。

首先、我必须确认是否可以将 Bq40z60应用于分离路径的设计？
如果可以、我有一个想法。 如果问题不是硬件设计、可以通过内存设置或更新固件来解决吗？
例如、 当 Bq40z60检测到放电模式条件时、它会强制关闭充电器的所有环路和控件...等等

BTW、我尝试参考 EVM 设计并将其修改为 CHG/DSG FET 合并路径。 这个漏电问题已经解决、DSG FET 的体二极管可以减少漏电。

但这种设计不是我需要的。

使用 FET 关断和充电器模式进行测试的原因是 、进入放电模式时、19V 和充电器关断速度太慢(或失去来自 CMD 的充电器关断命令)、 此时可能会发生过载或短路、从而导致 DSG FET 损坏。

我唯一可以怀疑的是、泄漏通过充电器高侧 MOS 流向芯片的 VCC 引脚。
但 ACFET MOS 也导通了、我无法确认这个理论是正确的。(请参考所附文件的分析路径。)

另一个怀疑是芯片内部的电荷泵同时被激活、受 DSG 引脚驱动器的影响。
还必须从芯片上分析这一理论。

如果您有更好的想法、请告诉我。

Janson

e2e.ti.com/.../BQ40Z60-Circuit_2800_1_2900_.pdf

您好、Terry：

根据您提供的解决方案以及 DSG FET 中 BQ40z50&Bq40z80的电路、实验完成后、我没有解决前面所述的情况。 (有关实验的3个电路、请参阅随附的文件)
我还尝试更新芯片固件(0_13 => 0_15)、结果仍然相同。

因此、我必须立即选择一个能够匹配分离路径的解决方案。 我需要以下信息。

短期解决方案：跳过 Bq40z60的充电器功能、插入单独的充电器
问题：1. 此修改是否会影响芯片 AFE 和监测计的功能？
          2.我可以强制芯片的充电器功能永久关闭吗？

长期解决方案：更换 BMS 芯片(研究 BQ40z50或 BQ40Z80)
问题：1. 具有分离路径的 Bq40z50和 Bq40Z80是否有任何应用数据？
          2、这2个芯片的电量监测计功能是 IT 还是 CEDV 基础？

如果您有进一步的实验信息、可以与我分享吗？
并 提供上述信息。

Janson

e2e.ti.com/.../7823.DSG-FET-Solution-circuit.pptx

您好、Terry：

我很难理解 BQ40Z50和 BQ40Z60不能设计为分离路径的主要原因。 它仅提供了分体环路的设计、该设计太弱。

但是、Bq40z80没有强大的分离路径应用、重新设计的解决方案风险太大。

您能告诉我 Bq40z60和50无法应用于分割路径的理论吗？

谢谢

Janson

大家好，David：

正如前面与 Terry 讨论的解决方案所述、此问题尚未解决、它无法解决充电器启动后 DSG 泄漏的问题。
(使用 DSG/CHG FET 关断状态观察泄漏、这是一种经过验证的方法、并不意味着我需要在充电模式下关闭 CHG&DSG FET。 除非在充电模式下进行保护)

目前我有两个解决方案正在进行中：
1.保持 CHG/DSG 分离路径设计、跳过 bq40z60的充电功能、并插入充电器。 (现已确认)

如果这个解决方案1可以解决、我希望更改为 Bq40z50芯片、但是我无法获得 CHG/DSG 分离路径(对于4S)应用、或者其他适合这个应用的芯片解决方案。

2.评估此产品应用的 CHG/DSG 合并路径的可行性。
(但这不是我想要的、因为产品应用的放电电流非常大、会导致空间问题)

此外，在2018年9月1日下午7：12 (第一篇文章)，我提供了 PCB 布局，您能帮助您进行审查吗？

Janson

您好、Terry：

目前、我已取消充电器功能、并使用外部 CC-CV 充电器更换了原始充电器。

在测试过程中、发现一旦电压被引入 HSRN 引脚并且处于 FET 关断模式、DSG 栅极电压就会增加(大约1V 至2V)。

这证明了所有指向 HSRN 引脚的问题都是导致此问题的主要原因、但我无法理解这是充电器的电流传感器。 它为何会影响 DSG 栅极的输出？

您是否曾做过此实验？ 当然、您也可以添加直流电压(~16V)、您也可以看到这个问题。

请参阅以下电路。

Janson

您好，Terry：您对上述外部充电器中发现的问题是否有进一步的分析？

Janson