[参考译文] LMG3410R070：全桥的高侧晶体管、用于指示空载条件下的过流保护

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器件型号：LMG3410R070
主题中讨论的其他器件：ISO7762

在无负载条件下使用 LMG3410测试全桥转换器时、我们发现了一个有趣的故障。

FAULT 引脚指示的故障跳闸点与频率和压摆率有关。对于低于250kHz 的低频、故障永远不会发生。对于~250kHz 的频率、每个半桥的高侧晶体管在运行大约1分钟后关断、并指示故障。对于测试频率高达500kHz 的较高频率、故障运行时间迅速减少到几秒。对于陡峭的压摆率、该时间也会降低、这听起来像是 EMI 问题。但对于500kHz 的平转换率、大约20V/ns 的情况下、也会触发故障。因此、EMI 变得更加不合理。

由于可以通过中断 PWM 信号来重置故障、因此我想故障导通是由数据表中提到的过流保护造成的。

您是否知道为什么触发 OCP 故障以及如何解决该故障？

6 年多前

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2383180 points

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Marcel、您好！

感谢您的提问。是的、听起来您遇到了 EMI 问题。可能有一个 OCP 信号中断您的电路的运行。

OCP 信号可能是假信号、这意味着信号通常由共模干扰产生的噪声产生。在这种情况下、沿故障信号线路添加一些滤波电容器会有所帮助。 RC 类型的滤波器是一个不错的选择。

2.当您具有较高的 dv/dt 时、输入 PWM 信号可能会受到污染、这会导致击穿。请检查共模抑制能力以及 CM 噪声的任何路径。例如、CM 噪声可在隔离器/光耦合器或隔离式电源上传输、并导致某些接地反弹。请确保您有足够的 CM 扼流圈来滤除噪声。

希望这对您有所帮助。谢谢！

此致、

连

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2383180 points

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您好、利兴、

感谢您的回答！
参考：

我认为 FAULT 引脚是一个推挽输出。来自外部的噪声如何影响 LMG3410内部触发故障的行为？我没有测试这种方法、但很快就会测试。

2.我选择 NXE2 (CIO = 2pF)作为 LMG3410的隔离式直流/直流转换器、选择 ISO7762 (CIO = 0、9pF)作为具有相对较低输入到输出电容的信号隔离。我在 NXE2的输入侧添加了 CM 扼流圈、但未发生故障变化。

在进行更多测试后、我可以说故障取决于输入电压和开关频率。压摆率的影响非常小、因此故障在300kHz 和400V 条件下发生、压摆率为90V/ns、最快为20V/ns。

此致 Marcel

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2383180 points

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尊敬的 Marcel：

感谢后续行动。请查看我的答案、如下所示：

1.是故障引脚是 CMOS 推挽输出。这种外部影响不会影响内部操作。但以防控制器产生外部保护。如果不是、您应该对此没有问题。

2.我检查了您使用的两个器件的数据表。是的、它们的电容非常低、在类似20V/ns 的低 dv/dt 情况下、不应成为影响 EMI 的主要因素。

我们也以高频率在硬开关条件下运行这些器件、但尚未发现此问题。听起来可能与布局或设计有关。请确保您的布局布线、尤其是 Vneg 电容器、VDD 电容器尽可能靠近引脚。此外、您能否分享您的运行条件、如器件上的电流？

谢谢、此致、
连

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[参考译文] LMG3410R070：全桥的高侧晶体管、用于指示空载条件下的过流保护