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[参考译文] BQ27742-G1:通过固件同时断开 CHG & AMP;DSG FET

Guru**** 2482105 points
Other Parts Discussed in Thread: BQSTUDIO

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/696021/bq27742-g1-disconnecting-chg-dsg-fet-simultaneously-by-firmware

器件型号:BQ27742-G1
主题中讨论的其他器件:BQSTUDIO

我们需要使用 固件长时间从器件上断开电池组的选项(我们确实需要断开的电池不会充电、即使充电器已连接并且在固件再次启用之前不会放电)。 为了打开 CHG 和 DSG 外部 FET,我们尝试了两种方法,都失败了:

使用 FETtest 寄存器–由于某种原因,在将0x0083应用于0x73、0x74寄存器时 ,只有一个 FET 被关闭–有时是 CHG,有时是 DSG -它可能取决于电池充电/放电状态, 如果是–如何将两个 FET 一起永久断开?(无论电池电流方向如何断开)。

2.我们尝试的另一种方法是将 OT 条件设置为低于当前温度读数(充电和放电均如此),通过使用 BQstudio,我们更改了闪存中的相关值,重置器件,但 FET 仍处于关闭状态,并且未发出 OTC 标志 (默认情况下所有其他器件配置)。

我们错过了什么吗? 有没有其他方法可以对晶体管进行此类控制?

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    你(们)好 Neri

    -在部署芯片时、不会放置 FET 命令来关闭 FET。 验证 FET 的功能是出于测试目的。 参见 TRM

    -对于第二种方法,您是否尝试对设备进行电源循环? 这也不是可行的解决办法。

    您可以发送 shutdown 命令来关闭设备,也可以使用外部组件和主机断开连接。

    谢谢

    Onyx

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    谢谢
    1 -目前我们确实尝试这样做是为了进行测试、可以在 TRM 中找到为什么将0x0083写入 FETtest 并通过将0x24置于控制寄存器来执行它不会始终打开两个寄存器
    2.关机正常,重新连接充电器将重新启用设备... 任何防止它再次打开的选项
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    -您是否启用了它?-您不应该打开它。 我在 TRM 中提到的任何地方都看不到0x0083?
    是的、应用充电器会唤醒器件和 FET
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    根据 TRM (55-56页)向 FETtest()写入0x0083:(0x73-0x74) shell 打开 CHG、DSG 并将 RECEN 置于固件控制模式。通过将0x2放入 CHKSUM 位来验证命令。 我的问题是、控制 FET 打开/关闭的其他条件是什么、因为同一命令(0x83)每次打开不同的晶体管。 (有时它会打开 CHR、有时会打开 DSG)
    谢谢