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[参考译文] TPS4H160-Q1:当 MCU 拉低 INX 时、TPS4H160芯片发热严重;

Guru**** 2482105 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/695589/tps4h160-q1-when-the-mcu-pulls-down-the-inx-off-the-tps4h160-chip-heat-is-severe

器件型号:TPS4H160-Q1

使用 TPS4H160 VB 版本作为输出电压的开路短路检测、并通过对 CS 电压进行采样来确定是否供电(MCU 控制 INX);

问题现象:

当 MCU 上拉 INX 以启用电源时、温度正常;当 MCU 下拉 INX 时、芯片发热严重;

 

它很快就会变热。 INX 需要多长时间才能下拉、它将变得非常热? CTM 应用场景将关闭端口。 也就是说、INx 将继续下拉。

 

另一个问题:

CTM 软件程序旨在:

轮询4个通道以获得每个通道的 CS,并确定负载是开路还是短路,然后控制相应地关闭负载;

电流现象为:

如果端口已成功通电、器件将在几分钟后断电。 初始测试是 CS 电压约为6V。 轮询每个通道的建议采集间隔是多长时间? CS 电压是否可靠? ?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Seasat、

    我检查了原理图、没有发现导致器件在关断状态下发热的问题。   由于 INx 持续 打开和关闭、我认为器件变热。 请检查并发送 waverform (如果可用)。

    您是否意味着4个通道 INX 同时被拉低?  CS 根据选择引脚 SEH 和 SEL 报告一个通道的状态。 例如、SEH = 0和 SEL = 0、将报告通道1的状态。 要报告通道2的状态、SEH = 0且 SEL = 1。 转换延迟最大为50uS 这意味着要报告通道状态、等待时间大约为50us。

    我的回答 是基于我对您问题的理解。 如有必要、我将准备好接听电话。

    此致、