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器件型号:UCC28780 我使用 的是 sluc644中的 Mathcad 文档。 在"中子..." 工作表中进行了测试、以确保40ns 延迟 T.DPWML_H (加上驱动器延迟)大于开关节点处的实际电路上升时间(T.RISE_max)。 测试在原始工作表中运行良好、但仅因为 C.SW_T (总开关节点电容)的计算结果对 C.OSS_Q_T (初级开关 FET 基于时间的输出电容)使用40pF 的固定值。
我找不到任何 FET、GaN 或 Si、它们具有如此低的基于时间的输出电容。 典型 GaN FET 的运行看起来更像200 - 300pF、这会导致 T.DPWML_H 测试失败。 工作表中的 C.OSS_Q_T 固定为40pF、而不是依赖于电压、这是值得怀疑的。 就像有人在那里卡住了40 pF、让公式正常工作。 这也会影响其他计算。
为了解决这一问题、我应该在设置= 5V 的情况下运行 UCC28780、以便在使用 GaN 的情况下选择 Si 开关? 是否会在 T.DPWML_H 上提供足够的延迟而不会导致其他问题?
感谢你的任何帮助。