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大家好、
RθJA Δ I 与许多因素相关。 RθJA 板上的 Δ I 不一定与数据表相同、因此是否有任何方法可以评估结温?
您能否在下表中提供参数? 如果不是、不提供该信息的原因是什么? 谢谢。
此致、
Charlie
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您好 Charlie、
感谢您的参与。
[引用 userid="528809" URL"~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1190806/tps826711-the-thermal-resistance-data-of-tps826711 RθJA 因为与许多因素相关。 客户电路板上的 μ RθJA 不一定与数据表相同是 的,您答对了 RθJA 取决于本应用手册中定义的许多因素- 半导体和 IC 封装热指标(修订版 C)(TI.com) 。 您可以为您的电路板评估 RθJA μ F、并从中计算 结温。 另一种方法是使用热感图像来测量外壳温度、该温度大约被视为 EVM 用户指南中给出的结温。(TPS826xxEVM-646用户指南(修订版 D)(TI.com))
由于 TPS826711是一款旧器件、因此此时的热指标参数不是模型。 没有具体的技术原因不提供它。
如果您正在寻找新模块、我建议您使用我们的新模块 TPSM82821 (TPSM8282x、TPSM8282xA 1A、2A 和3A 高效降压转换器 MicroSiP 电源模块及集成电感器数据表(修订版 F)(TI.com)
如果您需要进一步的支持、请告诉我。
谢谢、
此致、
莫赫丁。
您好 Charlie、
[引用 userid="528809" URL"~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1190806/tps826711-the-thermal-resistance-data-of-tps826711/4489515 #4489515"]我能否使用热像仪测量外壳温度、然后使用以下公式计算结温?[/quot]您可以使用此公式计算结温。 但这里 的 RθJA 不是数据表中提到的值、因为该值是针对该特定 EVM 进行仿真的、对于客户电路板、该值会有所不同。 由于它取决于本应用手册中定义的许多因素- 半导体和 IC 封装热指标(修订版 C)(TI.com) 。
您可以为您的电路板评估 RθJA μ F、然后通过使用给定的公式计算结温。
[引用 userid="528809" URL"~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1190806/tps826711-the-thermal-resistance-data-of-tps826711/4489515 #4489515"]您的意思是" 这大概被视为 EVM 用户指南中给出的结温。" [/报价]TPS826711是一款低功耗器件、功耗极低、因此温升极小。 因此、您可以将热像测量的外壳温度近似为结温。
您现在有2个选项、
1.查找客户电路板的 RθJA 并使用公式计算结温。
2.使用 热像测量外壳温度,并将其估算为结 温 ,因为它是一款低功耗器件。(注:对所有器件无效)
谢谢、
此致、
莫赫丁。