[参考译文] LM5170EVM-BIDIR：CCCV 测试观察 LDO 和逻辑是否损坏

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：LM5170EVM-BIDIR
主题中讨论的其他器件：LM5170

大家好、

我的客户正在使用 LM5170 EVM 板进行测试。

输入电压为48V、输出电压为300W (14.4V ~20A)

在两个 EVM 板上观察到、经过一些 CCCV 测试后、两个 LDO 损坏(无输出或输出异常高)、并影响 FET 的行为、但未接触 LDO 电路区域

两个 LDO 分别为 U3和 U4、TPS7950DBVR、TPS70933DBVR

在其中一个电路板上，经过一些测试，逻辑器件 SN74LV1T32DBVR 也被损坏(始终输出高电平)。

我们希望与设计团队核实观察结果以及是否可以提供任何建议

谢谢

0 admin 5 年多前

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尊敬的 John：

感谢您的参与。所发生的事情的描述不清楚。它们必须通过短接 U3或 U4输出来执行错误操作。最有可能 LM5170仍在工作。

首先、确保10V 偏置电源仍然有效。否则、您将需要更换所有三个 IC：U3、U4和 U5。您必须先看到已建立10V、5V 和.3V、然后才能运行 EVM。

另一个选项是、移除 U3、U4 (假设 U5正常工作、如果不能、则需要断开 J4)、并从外部为 J17的相应引脚(60引脚连接器)提供3.3V 和5V 电源。

更快速的解决方案是订购新的 EVM、在测试期间处理 EVM 时请遵循用户指南说明。

此致、

应用工程学 Yohao Xi

电源管理（参考译文帖）(Read Only)