[参考译文] TPS22975：检查芯片本身是否由于施加到 Vin 的过压而导致损坏而短路

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1196045/tps22975-check-whether-the-chip-itself-is-shorted-due-to-damage-caused-by-overvoltage-applied-to-vin

你好
TPS22975NDSG (=负载开关)部件用于老化测试仪的电路板部件。

我们将首先解释问题的情况。

在使用期间、对 Vin 引脚(=1、2)施加了大约13.5[V]的过压、TPS22975损坏。

因此、TPS22975内部预计会发生短路。

我在这方面向你提出一个问题。

Q1)如果 TPS22975NDSG 器件因过压而损坏、超过额定电压、那么芯片本身是否对 Vin 和 GND 短路进行了更正？

    如果是，请详细解释原则。

Q2)额定电压规格为最大6 [V]。 我已查看数据表。

    如果您有关于可能因过压而损坏的电压/电流的规格信息、请告知我们。

* 已附加损坏的映像。