根据 器件型号 TPS54560BQDDAQ1的 PPAP 文档、似乎已经按照 JEDEC 标准对 EM、TDDB、HCI 和 NBTI 进行了测试。
您是否对每个部件、每个系列或每个技术执行以下测试?
TI 是否具有符合 EM JESD61标准的 T50值?
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根据 器件型号 TPS54560BQDDAQ1的 PPAP 文档、似乎已经按照 JEDEC 标准对 EM、TDDB、HCI 和 NBTI 进行了测试。
您是否对每个部件、每个系列或每个技术执行以下测试?
TI 是否具有符合 EM JESD61标准的 T50值?
在针对代表未来产品预期结构的晶圆级测试结构进行技术认证期间、研究了所有这些 D 组磨损机制。 然后、这些构造规则会锁定到采用该技术的未来 IC 产品的设计库和制造规则中。
即使签订了保密协议、我们也不能提供这些研究的原始结果、因为它们被归类为"TI 机密最高限制"。 公有领域的 技术支持最低100,000次通电时间@ 105°C Tj 寿命。 然而对于 HCI、寿命为27C 而非105CTj、这是因为 HCI 因温度较低而加速。
请参阅 通用质量指南|质量政策和规程|质量和可靠性| TI.com 第12节、其中介绍了此寿命状况。