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[参考译文] BQ78350:高可用性

Guru**** 2386610 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ76940EVM, BQ76940, BQ78350
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1234298/bq78350-high-availability

器件型号:BQ78350
主题中讨论的其他器件:BQ76940、、BQ76940EVM

是否有办法 使用带有 MCU 的 BQ78350 + BQ76940来打造高可用性智能电池?

我希望拥有 BQ78350附带的所有功能、而不是自己实施这些功能、

不要使用 MCU 来绕过 故障、并让 BQ76940 根据 配置对故障进行处理。  

我有一个 BQ76940EVM 板。

我已阅读应用报告《适用于高可用性系统的故障监控》
使用 bq769x0 " SLUA805 0 BQ769x0。

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    您好!

    通过在 bq78350上配置保护参数、您可以在没有 MCU 的情况下使用电量监测计和保护器。

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    您能详细说明一下吗?

    BQ78350是否控制充电放电 FET?

    需要用这两个单位更改哪些参数?

    您是否有关于  BQ78350高可用性的等效技术论文?  

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    您是否了解过 bq78350 TRM?

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    是的、与我使用 TI 和该产品系列的经验一样、TRM 中并非包含有关如何使用该产品的所有信息。  

    就像 bq76940高可用性的方法一样、TRM 中没有、如果您不知道确切的目标、也不容易找到。

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    EVM 用户指南也是一个很好的参考

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    我已经阅读了我可能被罚款的所有信息,有一个原因,我指出了一些来源我的问题。

    我不认为我在这里问这个问题之前没有准备好,我也没有不尊重人民的时间。

    我想你在另一方面,因为我看到它,没有费心去读或理解我的问题,你回答我用这个机器人  自动应答。

    写作我不知道/理解是更尊重,而不是像这样对待他人。 尊重如果有人在论坛上提问,他们已经用尽了基本资源。

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    您好、g h:

    我的意思是没有不尊重。 老实说、不像要求详述的问题那样明确的问题很难回答。

    对于其他问题、我可以向您指出涵盖该主题的特定 TRM 部分。 正确答案将取决于您的要求、而在这一点上、我对此几乎一无所知。 然而、通过使用 bq78350中的多种配置设置、您可进行定制以满足您的要求

    BQ78350是否控制充电放电 FET? 是的、假设您将实现 EVM 设计。 TRM 第15.2.17 AltManufacturerAccess () 0x001F CHG FET Toggle 和15.2.18 AltManufacturerAccess () 0x0020 DSG FET Toggle 列出了用于控制两个 FET 的特定命令。 TRM 中多次引用了 FET 行为。 可以将 FET 设置为在各种安全条件下独立运行、而无需发送 Toggle 命令。

    需要用这两个单位更改哪些参数?  TRM 第4.2节"永久失效配置"具有禁用 XREADY 永久失效的设置、这是影响高可用性要求的标志之一。 第4.3节:启用 SAFE 引脚-可以配置为允许通过使用 SAFE 引脚通知您的系统。 如果还有其他安全条件仍希望允许放电、则需要禁用放电、或通过 SAFE 引脚或其他通知采取措施。 请注意、这是电池寿命与系统寿命之间的折衷。 我们的想法是允许电池经历一些非理想条件、以保护系统免受损坏、因为在这种情况下电池的更换成本更低、或者因为此时对系统的使用是最重要的标准。

    TRM 链接(可能不是永久链接) https://www.ti.com/lit/ug/sluuc78/sluuc78.pdf

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    BQ78350是否会 像您说的那样控制充电放电 FET、但根据我的理解、它会通过 BQ76940来控制。

    我希望构建  SLUA 805中定义的高可用性系统。 这意味着  我将不会通过 smbus 按照命令关闭放电 FET。

    如果您看一下 SLUA805   <- link、您可以看到这是借助 MCU 实现的、不借助 MCU 实现的! 这就是 BQ78350。 因为 BQ78350是一款非常智能的 器件、能够提供我所需的一切。 我要问的是、有可能 具有与 SLUA805中相同的想法、但不 使用随机 MCU、而是使用我已经计划使用的 BQ78350。

     

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    尊敬的 Shirish:感谢您的参与。

    我们正在寻找一种方法来让电路保持电池组可供其负载使用、无论电池状态如何、即"高可用性"。

    到目前为止、我们已经查看了包括 TRM 在内的多个文档、但我们还没有找到方法来使用 BQ78350 -正如 g h 所说、只能使用 MCU。 如果它是可能的、我们希望获得有关如何使用 BQ78350实现此目标的更具体的指导、或者如果不可能、至少无法进行验证。

    再次感谢您的帮助。

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    您好、Ortal 和 gh。

    MCU 是一个示例。 某些 MCU 操作可由 bq78350执行、因此您并不总是需要 MCU。

    当您使用 bq78350时、您将设置 bq78350的数据闪存参数、以防止放电 FET 打开。

    您只需要禁用任何(全部?) 从而导致放电 FET 开路。  这些是从保护状态触发的、

    TRM 第3节保护........................................................................... 17

    您还可以通过将限制设置为无法达到的值来完全禁用保护。 将所有放电相关参数和欠压参数设置为可确保高可靠性的设置。

    短路也是保护措施之一。 将此阈值设置为比最大电流脉冲高得多、并具有足够的延迟、以实现高可用性。

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    尊敬的 Shirish:

    再次感谢您的快速回复。

    在您建议的方法中、我们无法知道发生了 SCD 或 OCD 事件、对吗? 泄漏电流。

     在 BQ78350和 BQ79640期间、是否可以在不禁用 FET 的情况下监测故障?

    谢谢!

    奥尔塔尔

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    您好、Ortal:

    可以通过设置保护配置中的位来进行 FET 控制

    TRM 第3.1.4节用于电流保护的 FET 操作选项

    您始终可以读取寄存器的状态以获取警报。 请注意、Alert 与 Trip 之间存在差异。 例如、您可以获得 CUV 警报、但通过设置较长的延迟持续时间来阻止跳闸。 因此、在延迟持续时间之前、您可以读取警报、而不会跳过故障。

    TRM 第3.2节:电池欠压保护

    您可以配置参数以设置电池组的行为。 这组特性仅限于"保护"部分中所述的特性。