主题中讨论的其他器件: MSP430FR5994
设备
BQ35100芯片根据数据表进行连接、并由 I2C 通过 MCU (MSP430FR5994)进行控制。 GE 和 ALERT 输出也由 MCU 控制。
电源
两节 SAFT LS14500电池并联连接。 电压3.6V、容量5200mAh、Li-SOCl2化学成分。
降级
我 通过 I2C 将 EV2300编程器连接到 BQ35100芯片、并根据 BQ studio 程序中的 SLUUBH7和 SLUA904手册中提供的说明调整电流和电压校准。 随后、我配置了电池设置、将"Operation config A"更改为 EOS 模式、并将化学成分 ID 更新为0623 (更新了 Ra 表)。 所有特定参数均可在随附文件中找到。 之后、我断开了 EV2300编程器的连接、并使用 MCU 对全新的电池进行彻底放电。 测试前、我发出了"new_battery"命令。
负载
在测试中使用了两种不同类型的消耗源: Digi XBee 3模块 和50欧姆电阻:
- XBee 消耗导致40mV 的电压降,这是不够的,根据手册。
- 电阻器连接到"BAT+"和"PACK-"引脚、 会导致120mV 的压降。
测量
测量算法如下所示:
- 停止所有消耗。
- 启用 GE 引脚。
- 读取电池状态。
- 等待2秒钟。
- 发送 GAUGE_START 命令。
- 等待 GA 位。
- 等待0.1秒钟。
- 2秒内的最大消耗量。
- 发送 GAUGE_STOP 命令。
- 20秒内达到最低耗电量。
- 等待 ALERT 由于 G_DONE 而变为低电平。
- 周期:
-延迟1秒;
读取 参数值; - 禁用 GE 引脚。
- 发送所有参数。
- 将有源负载设置为2.4mA 并持续2小时。
在消费图表上、它看起来像:

测试结果
7台设备的测试持续了3个月。 数据位于以下存档中:
- 测试前后的配置和黄金映像文件:
e2e.ti.com/.../Golden-Images-and-Configurations.zip - 测量值:
e2e.ti.com/.../Measurement-Values.zip - 测试图中包含每次测试的注释:
e2e.ti.com/.../BQ35100_5F00_-EOS-mode-SAFT-LS14500-test-results.pdf
在测试过程中、连接有时会消失、因此测量之间几乎没有间隙。
问题
- 能否使 SOH 读数更准确?
- 在一些测试中、"BATLOW"标志的设置时间早于必要时间、并且经常更改其状态。 如何解决?
- 在大多数测试中都没有设置"EOS"标志。 这样做的原因是什么?
- 配置中的哪些参数设置不正确?
感谢 您与螺纹的互动。
