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器件型号：BQ76952 尊敬的：我使用 BQ76952芯片作为4P8S 18650电池的 BMS、短路保护出现问题。
实际上、电池必须通过 CC 测试才能获得认证、每次执行此测试时、我们都会破坏放电 MOSFET (4个并联充电、4个并联放电)。
由于充电 MOSFET 在测试后始终正常、而不是放电、因此我将重点研究放电电路。
我认为放电期间的开关会破坏 MOSFET、因为它们也会以高电流消耗进行开关。
在您的示例中也可以看到这种波纹(文档"具有 BQ769x2的多个 FET ")。
我在栅极驱动器上使用100R 电阻器、然后在快速放电电路上使用10k 电阻器、此时仍然有一些输出开关。
目前、我发现一种奇怪的方法 是禁用所有 OC 和 SC 保护、并使小型保险丝保持熔断、从而实现不可逆的保护。
在随附的图片中、您可以看到开关关闭期间的快速切换、然后电流又减小、因为任何 MOSFET 都应该被破坏。
如果有任何方法可以消除此开关现象、请告诉我。
提前感谢您。
蒂埃里·Q·
