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[参考译文] BQ40Z50-R2:ASCC 保护参数。

Guru**** 2589280 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ40Z50

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1317851/bq40z50-r2-ascc-protection-parameters

器件型号:BQ40Z50-R2
主题中讨论的其他器件:BQ40Z50

您好!

我对 ACSS 保护及其参数有一些疑问。
我的固件中有以下参数:

   ASCC
   锁存限制                 = 0
   计数器解码延迟     = 10s
   恢复                    = 5s
   复位                          = 15s
   阈值                   = 0xF1
   延迟时间                  = 0x0F
   延迟时间(us)           = 915µs
   分流电阻器(MR)    = 1
   阈值(mV)           = 66.60

执行了两个测试。
充电模式下的第一个电阻(电芯产生0A 电流)
出现100A 时、1ms 后、保护触发和、两个栅极 MOS控制断开电路
但在1之后、DCHG MOS 改变其状态(它变为关闭状态)。 CHG 一则保持开了15秒。



第2个测试处于放电模式。 (从电芯拉出1A 电流。)
出现100A 时1ms 后、保护触发器和两个栅极 MOS控制断开电路
600ms 后、DCHG MOS 改变状态(它变为关闭状态)。 然后、CHG 也会200ms 后改变其状态。




根据 BQ40Z50的技术参考、恢复后 MOS 应重新闭合、也就是上面固件5s。

我的问题是:
0锁存限制在固件中意味着什么? 这是否意味着我们 允许无限开启?
计数器解码延迟是什么意思?
3-重置时间后电量监测计打开、恢复时间不是正常的吗?
4 - ASCC 事件中DCHG MOS 是否会改变其状态?
5-如果是,为什么在我的测试中它会状态改为1S/600ms?

感谢你的帮助

哈桑·奥阿亚什

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    您好!

    以下是 ASCC 保护的条件:

    1.将锁存限制设置为0会在设置跳闸条件时立即触发锁存。 如上所示、当满足跳闸条件时、其中一个操作是递增 ASCCL 计数器。 锁存限制为0时、如果 ASCCL 大于1、则锁存跳闸操作将开始。

    2.计数器抽取延迟是指 ASCC 保护处于正常状态时、ASCCL 计数器每次降低之间的时间量。

    3.我认为由于锁存器跳闸并且它不是正常跳闸、因此切换将基于复位时间发生、因为它处于锁存复位阶段、而不是恢复阶段(因为锁存限制为0)。

    4、我认为 DSG FET 不应受上述情况影响。 仅设置了 xchg 位、该位会禁用充电 FET。

    此致、

    安东尼·巴尔迪诺

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    您好!

    感谢您的澄清。  

    如果我理解得好,当我们设置0锁存限制时,监测计会在触发保护之后立即进入锁存阶段,而不会经过恢复阶段?

    关于 DSG FET、我注意到它在触发保护机制一小段时间后被打开、对于这种行为有什么解释吗?

    最后一个问题是、在锁存或恢复期间、如果我们从电池中汲取电流、电流将流经 CHG FET 的体二极管和 DSG FET、因为它很接近。 我进行测试以查看将发生什么情况、电量监测计实际上在电流图开始后的短时间后关闭 CHG FET!  
    测量仪表的行为是否正常?

    此致、

    哈桑·奥阿亚什

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    您好!

    在接到安理会外部发言后,我认为我上一次的发言不是完全正确的。 保护可以在单一时间同时处于状态、但我们认为将锁存限制设为0与仅使用 ASCC 相同。 我们认为、如果您计划将锁存限制设置为0、则应禁用 ASCCL、这有助于使用复位时间而不是恢复时间来解决电量监测计的问题。

    关于有关 FET 行为的问题、这是电量监测计的正常行为。 触发硬件保护后、两个 FET 将短暂闭合以防止损坏、然后根据保护中的明显操作进行调整。

    此致、

    安东尼·巴尔迪诺