主题中讨论的其他器件: CSD16556Q5B
您好!
我将测试以下电路。
我遇到了 与 本主题中报告的问题类似的问题。 我在测试过程中损坏了几个器件。 栅极驱动引脚似乎已损坏、并且未打开 Pass FET。 对损坏的器件、我在 GATE 引脚上的1和200Ω 之间进行测量。 在功能正常的设备上、我测量20MΩ。
我让一些器件在启动和短路测试期间出现故障。 这些器件工作了一段时间、直到最终出现故障。 我们在正常使用期间有其他器件。 也就是说、他们只会接受功率循环测试、没有侵入式短路测试。
在相关链接中、建议添加与栅极串联的10Ω。 您能解释一下您提出这个建议的原因吗? 这会 防止我在栅极引脚上看到的损坏吗?
谢谢
约翰