This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] UCC28742:在驱动 MOSFET 时发生异常。

Guru**** 2383060 points
Other Parts Discussed in Thread: UCC28742
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1307017/ucc28742-exception-occurred-while-driving-mosfet

器件型号:UCC28742

e2e.ti.com/.../Documents-share-with-TI.zipe2e.ti.com/.../5758.photo.zip

原理图、PCB图和测试设备都在附件中。当用隔离探头同时测量UCC28742控制的MOS管的Vgs和Vds时,电路板爆炸。请解释和分析这一现象。注意:在PCBA中使用其他品牌的电源管理芯片时,不存在这种现象。

 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Nathan:

    感谢您在 UCC28742上提出疑问。

    爆炸可能是由几个原因造成的。 可能是发生爆炸的 MOSFET、也可能是控制器。

    1.在 Vgs 波形上进行探测产生下冲、过冲。 如果这些电压高于设计(MOSFET/控制器)的绝对最大额定值、则可能会损坏。

    2.如果是爆炸的控制器,可能是因为每个器件可以承受不同的最大绝对值。 因此、您可能需要检查这一点。

    3.我建议将一个电阻器(100ohm/1k 电阻)连接到探头引线,以抑制振荡,看看这是否有用。

    此致、

    哈里什