您好！
我有一个 充电器设计 、标有14A90Z8。 如果在155ms 后在未连接电池的情况下施加 VBUS、REGN 在2V 时打开、并在额外的85ms 后关闭。 它执行该操作7次、中间为500ms、然后停止。 在 SYS 上没有输出。 当我插入电池时、SYS 上有输出、而当施加 VBUS 时、电池不充电、REGEN 上没有输出。 附件仅为 VBUS 上的原理图和 REGN 行为。 电池为4S 、VBUS 为24V、但在16V 至23V 之间进行了测试。 您能告诉我原因可能是什么吗？
顺便说一下、我看到一个线程表明 bq25672的系列有故障、您能否验证一下这一行为是否与此无关？
谢谢。
托马什
尊敬的 Tomasz：
充电器检测到某种故障、并在7次启动尝试后进入 HiZ 模式。 除了防止热插拔输入电压> 15V 或4芯串联电池组造成损坏外、我在原理图中未看到任何明显的问题。 我怀疑由于输入插接时的振铃高于30V 或电池插接时的振铃高于20V 而损坏了 IC。 最新数据表中提供了在 VBUS 处添加输入缓冲器和在 BAT 处添加 TVS 二极管以防止损坏的建议。
此致、
杰夫
尊敬的 Tomasz：
如果安装了外部 shipFET、可使用 BATP 上的电容器代替 TVS。 以下链接提供了 TVS 二极管的教程。
简而言之、您需要一个 VBR <=20V 的 TVS 二极管。 BQ25792EVM 原理图显示了一个
它有点过分,但对于4S 应用很好。
此致、
杰夫
尊敬的 Tomasz：
寄存器显示了充电器处于收尾电荷状态、即 V (BATP)= BATREG。 充电器的 BATREG 寄存器设置是多少？ 另外、ADC 通道全部为零。 是否可以在 REG0x2e[7]= 1中使用 EN_ADC 位重新运行？
此致、
杰夫
尊敬的 Tomasz：
充电器报告 IINDPM 限制了输入电流、但对于 ADC 值没有意义：
如果您将 VBUS 短接至 PMID、充电电流是否增加？ 如果是、则 VBUS 和 PMID 之间的 FET 和电流检测放大器可能会因输入热插拔而损坏。
此致、
杰夫
