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[参考译文] BQ76942:AFE 短路保护(SCD)错误触发

Guru**** 1131400 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ76942, BQSTUDIO
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1283197/bq76942-afe-short-circuit-protection-scd-false-triggering

器件型号:BQ76942
主题中讨论的其他器件: BQSTUDIO

您好、TI 团队:

我发现 BQ76942中的 SCD 保护被错误触发、短路保护阈值为120A、但在测试期间、会出现错误警报 SCD 现象、在此期间连接负载的最大电流为3A、CC2电流采样不超过3A。

当触发 SCD 故障时、CHG 和 DSG FET 会断开连接。

我尝试将 Protections:SCD:Threshold 增加到100mV (电阻0.5毫欧、即短路电流阈值200A)、但它仍会触发 SCD。

当我关闭 SCD 功能时、不会发生该行为。

下图是我在调试时读回寄存器的安全状态 A 的值:

保护功能的相关寄存器配置如下:

//已启用保护 A 数据页146 OCC SCD OCD1
u8WriteBuff[0]= 0x80;
RET_FG = bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_ENABed_Protections_A、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

//启用的保护 B 数据表146 COV CUV
u8WriteBuff[0]= 0x00;
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_ENABed_Protections_B、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

// Enabled Protections C 数据页148主机看门狗故障
u8WriteBuff[0]= 0x00;
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_ENABed_Protections_C、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

//chg FET 保护 A 数据表148 OCC
u8WriteBuff[0]= 0x98;  
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_CHG_FET_Protections_A、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);


//chg FET 保护 B 数据表148
u8WriteBuff[0]= 0x00;
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_CHG_FET_Protections_B、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

//chg FET 保护相关数据表149
u8WriteBuff[0]= 0x00;
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_CHG_FET_Protections_C、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);
#endif

//DSG FET 保护 A 数据表150 OCD1 SCD
u8WriteBuff[0]= 0x80;
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_DSG_FET_Protections_A、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

//SCD:阈值数据表171 SCD
u8WriteBuff[0]= 3;//60mV(120A)
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_SCD_THRESHOLD、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

//SCD:延迟数据表171 SCD
u8WriteBuff[0]= 17;//240us
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_SCD_DELAY、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);


//DSG FET 保护 B 数据表150
u8WriteBuff[0]= 0x00;
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_DSG_FET_Protections_B、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

//DSG FET 保护 C 数据表151
u8WriteBuff[0]= 0x00;
RET_FG &= bq76942_AFE_WRITE_FUNC (MEM_DSG_FET_Protections_C、1、u8WriteBuff、子命令);
delay_ms (55);

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    Hi Jacket、

    发生这种情况时、您能否捕获 SRP 和 SRN 引脚之间的电压波形?

    SCD 使用基于比较器的触发、而不是 CC2、因此可能存在过快而无法在 CC2测量中显示的 SCD 事件。

    此致、

    马克斯·韦博肯

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    您好、Max:

    我已经尝试捕获电压的波形、但 在发生 SCD 时没有发现电压跳变。

    此致、

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    我想用 BqStudio 来检查寄存器、发现安全状态 A 位7的值偏高。

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    Hi Jacket、

    似乎与器件发生通信错误。 您能否检查 I2C 总线的信号完整性、以确保在读取数据时没有任何问题?

    此致、

    马克斯·韦博肯

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    您好、Max:

    我厌倦了捕获软件 I2C 总线的信号。 我发现它向寄存器写入了正确的数据、有时读取时没有 ACK。  这是否与错误触发 SCD 有关?

    下图是 逻辑分析仪捕获的波形:

    1. 写入 Settings:Protection:Enabled Protections A:将0x80写入寄存器0x9261
    1. 写入 Protections:SCD:Threshold:将9(200mV)写入寄存器0x9286
    1. 写入 Protections:SCD:Delay:将0x1F(450us)写入寄存器0x9287
    1. 从0x03寄存器读取(Safety Status A):读取值为0x80 )触发 SCD(或0x00( 未触发 SCD
    读取0x03寄存器时、有时没有响应、然后重复读取0x03寄存器、可以正确读取。 这是否与 SCD 误触发有关?
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    Hi Jacket、

    这是很奇怪的。 您能否分享您的原理图供我们查看?

    此外、您在什么条件下测试器件? 这可能是由 EMI 或 ESD 引起的行为。

    此致、

    马克斯·韦博肯

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    您好,Max M ü,

    由于公司的管制、我不能在 E2E 上分享、我已经把原理图发送给了 TI FAE、他会联系您。

    关于 THR 测试条件、这是在室温环境下进行的、使用 直流电源     进行充电、使用直流电子负载进行放电。

    此致、

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    Hi Jacket、

    我将暂时关闭该主题、因为我们已将其移至电子邮件。

    此致、

    马克斯·韦博肯