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器件型号:CSD19537Q3 是在外壳顶部或外壳底部(即散热焊盘)测量的 R_THETAJC in 5.2

提前感谢您、Kurt
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是在外壳顶部或外壳底部(即散热焊盘)测量的 R_THETAJC in 5.2

提前感谢您、Kurt
您好、Kurt、
谢谢咨询。 RθJC 在封装底部的散热(漏极)垫上测量。 TI 在数据表中不指定 RθJC (顶部)。 根据裸片尺寸和铜夹封装、我估计 RθJC (顶部)为15 - 20°C/W。 更多有关 TI 如何测试和规格热阻的信息、请参阅以下链接中的博客。
谢谢。
约翰·华莱士
TI FET 应用