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[参考译文] BQ25629:通过 USB 移动电源加载电池时、BQ 芯片永久损坏

Guru**** 2387060 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25629
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1282168/bq25629-permanently-damaged-bq-chips-when-loading-battery-via-usb-power-bank

器件型号:BQ25629

你(们)好!


我对 BQ25629故障行为有一些疑问。 我们在其中一个项目中使用了 BQ25629。 遗憾的是、在为我们的电池充电时、经常会损坏 BQ 芯片(大多数情况下、电流较高、例如1、5A–2A)。

BQ 芯片损坏的行为基本上始终相同、如下所示:
电池连接到 BQ、一切看起来都正常、没有故障标志、并且提供了系统电压且稳定。 我们一插入 USB 电源(来自移动电源)、BQ 芯片就会关闭 Sys 电压、看来 BQ 正进入关断/复位、芯片永久损坏。 这会在1到2秒内发生。

一旦损坏 BQ 芯片仍然可以使用电池运行(I2C 通信和传感器值正常工作)、但当插入 USB 电源时、芯片会不断关闭 SYS-Voltage 并永久重新启动(可能是因为 TDI 上升到120°C 以上)。 唯一的解决办法是更换芯片、使电路板再次工作。

我们已经手动添加了缺失的10uF 和0.1uF PMID 电容(参见附加的原理图)、并将 VBUS 电容放在更靠近芯片的位置、这样就更难销毁 BQ 芯片、但当芯片被销毁时、仍然有一些情况发生。

我们的问题是:
-你知道上面描述的损坏的 BQ 芯片的行为,它是否与特定问题有关?
-你认为什么可以导致这些问题?  

感谢您的帮助!

此致、
卢卡斯

e2e.ti.com/.../bq_2D00_schmatics.pdf

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    Lukas,

    我们将在本周进行检查并与您联系。

    谢谢。

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    尊敬的 Lukas:

    1、过去未报告类似行为。

    2.请参考图10-2. 用户指南上的 BQ25629应用图和 EVM 原理图、尤其是针对充电器引脚处的电容器。

    1) 1) REGN 需要4.7uF 电容器。

    2)需要将一个1uF 电容器靠近 VBUS 引脚放置。

    3) 3) C16 (220uF)是否靠近充电器的 SYS 引脚? 如果是、请删除 C16并重试。  

    3.请确保遵循 d/s 的12个布局中的准则。

    谢谢。

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    您好、Ning:

    感谢您的回答。

    我们将遵循您的建议、并在下一次修订中改进我们的布局。 如果这仍然无法解决我们的问题、我们会联系您以获得进一步的帮助。

    谢谢。此致、
    卢卡斯