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[参考译文] LMZ14202H:烘烤过程中损坏

Guru**** 1129500 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1275515/lmz14202h-damaged-in-baking-process

器件型号:LMZ14202H

我对我们两个板上的 LMZ14202HTZ 器件有类似问题。  我们遇到的情况是、器件在烘烤过程中会损坏。  长期以来、我们一直没有更改设计、仅在今年、故障率就达到了40%左右。  当我们手动更换损坏的器件时、新器件使用相同的卷盘工作。  我们看到的故障是 Vin 与 GND 短路和/或 Vout 与 GND 电阻显著下降。  我们相信我们拥有合适的温度曲线、最高温度为250C。  我们使用 RoHS 元件、因此温度为245C +-5C。  目前、我们决定手动放置该器件、以防止出现故障。  还有人经历过类似的事情吗?  如果您可以、请分享您完成的内容、修复将会受到很大影响的故障。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    您能否提供您正在使用的回流焊曲线以及所有其他相关的组装信息?  

    您是否能够在发生故障的电路板上进行 X 射线检查、以了解短路的发生位置?